电连接器热循环加速试验与失效分析研究

发布时间：2018-01-11 23:31

  本文关键词：电连接器热循环加速试验与失效分析研究　出处：《兵工学报》2014年11期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：空间技术的迅猛发展对电连接器可靠性提出了更高的要求,主要研究温度循环条件下电连接器的可靠性问题。结合加速寿命试验理论,设计了一种电连接器热循环加速试验方案并进行了试验。在试验中,试品接触件的接触电阻值随循环次数的增加而缓慢增长,利用灰色模型预测出了试品的热循环寿命。此外,对试验后试品插孔的分析发现:插孔的晶粒尺寸增大且不均匀,亚结构的碎化程度、位错密度及有序的β'相均有增加。由此可知,连接器插孔中微观结构的变化是引发其综合力学性能下降,插孔出现应力松弛现象,而导致接触可靠性逐步蜕化的根本原因。
[Abstract]:The rapid development of space technology puts forward higher requirements for the reliability of electrical connectors. It mainly studies the reliability of electrical connectors under the condition of temperature cycling and combines with the theory of accelerated life test. An accelerated test scheme for thermal cycling of electrical connectors was designed and tested. In the test, the contact resistance of the samples increased slowly with the increase of the number of cycles. The thermal cycle life of the specimen was predicted by using the grey model. In addition, the analysis of the Jack after the test showed that the grain size of the Jack was increased and uneven, and the degree of substructure was broken. The dislocation density and the ordered 尾 'phase increase. It can be seen that the change of microstructure in the connector Jack leads to the decline of its comprehensive mechanical properties and the stress relaxation in the Jack. And the root cause of the gradual degradation of contact reliability.
【作者单位】： 河北工业大学电气工程学院;
【基金】：国家自然科学基金项目(51107028)
【分类号】：TM503.5
【正文快照】： 0引言电连接器是一种依靠插针插孔(即接触件)的插合和分离,来实现电路通断的机电元件。电连接器广泛应用于各种尖端技术系统及大型军用、民用系统中,其质量的好坏与可靠性的高低对电气电子设备的性能及系统的安全运行有重要的影响[1]。接触失效是电连接器的主要失效模式之一,

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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本文编号：1411743