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零电压零电流转换软开关技术中二极管反向恢复的影响

发布时间:2018-06-01 05:31

  本文选题:零电压零电流软开关技术 + 软开关 ; 参考:《中国电机工程学报》2015年04期


【摘要】:采用谐振极型零电压零电流软开关技术(zero-voltage/zero-current transition,ZVZCT)旨在消除功率器件的开关损耗,但实际上在软开关谐振换流过程中会引入多次额外的二极管反向恢复过程,产生额外的损耗。由于软开关换流过程中的特殊性,采用一般的方法难以对反向恢复过程中的损耗进行评估和计算,给ZVZCT软开关设计带来了困难。该文在考虑二极管反向恢复过程的基础上,详细介绍了ZVZCT软开关技术的换流过程。通过引入二极管载流子寿命以及电荷控制方程,提出了一种适用于软开关换流条件下的二极管反向恢复损耗模型。最后,通过软开关组件的双脉冲实验验证了该二极管反向恢复损耗模型的正确性。研究表明,采用ZVZCT技术的软开关设备的开关损耗与开关器件的二极管反向恢复特性直接相关。
[Abstract]:The zero-voltage zero-current soft-switching technique is used to eliminate the switching loss of power devices, but in fact, additional diode reverse recovery process will be introduced in the process of soft-switching resonant converter, resulting in extra loss. Because of the particularity of the soft switch commutation process, it is difficult to evaluate and calculate the loss in the reverse recovery process by using the general method, which brings difficulties to the design of ZVZCT soft switch. Based on the consideration of diode reverse recovery process, this paper introduces the commutation process of ZVZCT soft switch technology in detail. By introducing diode carrier lifetime and charge control equation, a diode reverse recovery loss model is proposed for soft-switching commutation. Finally, the correctness of the diode reverse recovery loss model is verified by the double pulse experiment of the soft switch module. The results show that the switching loss of soft switching devices using ZVZCT technology is directly related to the diode reverse recovery characteristics of switching devices.
【作者单位】: 北京交通大学国家能源主动配电网技术研发中心;
【基金】:国家863高技术基金项目(2011AA05A306)~~
【分类号】:TM46

【参考文献】

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【共引文献】

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1 王强;张化光;褚恩辉;刘秀,

本文编号:1963021


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