网络化RCD检测仪校准装置设计
发布时间：2020-12-01 15:03
设计的RCD检测仪校准装置,融合应用测量控制技术、计算机技术和网络技术,实现自动化、智能化校准,并通过网络传输数据,彻底解决了传统方法复杂化、效率低、数据不能自动保存的弊端。该装置扩大了剩余电流测量范围,提高电流测量分辨力,保证开关定时精确控制,并实现数据网络传输。为广大保护器生产和使用企业提供权威的检测数据和技术支撑。
【文章来源】：计量技术. 2019年06期 第14-19页
【文章页数】：6 页
【文章类型】：期刊
【部分图文】：
ＲCD检测仪校准装置系统组成框图
2019年第6期·15·2主体电路及主要单元电路设计2.1ＲCD检测仪校准装置主体电路结构ＲCD检测仪校准装置主体电路结构如图2所示。图2ＲCD检测仪校准装置主体电路结构2.2主要单元电路2.2.1主控处理单元电路ＲCD检测仪校准装置的设备主控处理单元起着协调管理校准装置各硬件单元电路与软件程序算法数据处理的作用。其主控单元选用STM32F103作为主控处理器，外围电路包括:时钟ＲTC电路、USB转串口电路、触控液显接口电路、U8300通信模块电路、数据存储电路和声光报警电路等。本设计中所选用的STM32F103VC芯片，硬件资源丰富，由于本系统中需要使用3个串口，此款芯片带有四个串口，满足设计使用需求。该芯片［7－8］具有丰富的内存资源以及高速时钟，可以更好、更快地执行本装置中测量系统部分的剩余电流测量算法。2.2.2采样与开关电路及时间测量ＲCD检测仪校准装置的采样单元中选配高精度低温漂电阻，该电阻最大允许误差要达到±0.05%，电阻功率要求5W，温度系数优于±0.0025%/℃;校准装置的高速开关部分选择IＲF-PS40N50L，该MOS管具有低内阻、开关速度快、耐高压的特点。由于测量信号是交流信号，所以，开关电路设计需要使用两个MOS管，以采样互补形式连接，保证正负半周的电流信号都可以导通。因数字信号与模拟信号需要隔离，所以，开关信号采用光耦元件来传递。ＲCD检测仪校准装置的采样与开关电路设计如图3所示。图3采样与开关电路ＲCD检测仪校准装置的时间测量电路相关参数指标，实现方面可由单片机处理器完成，但是兼顾考虑到单片机的定时器特性，其测量时间的精度本身存在误差，同时易受其他程序影响。当单片机处理任务较多的情况下，对测量时间精度?
2.2.2采样与开关电路及时间测量ＲCD检测仪校准装置的采样单元中选配高精度低温漂电阻，该电阻最大允许误差要达到±0.05%，电阻功率要求5W，温度系数优于±0.0025%/℃;校准装置的高速开关部分选择IＲF-PS40N50L，该MOS管具有低内阻、开关速度快、耐高压的特点。由于测量信号是交流信号，所以，开关电路设计需要使用两个MOS管，以采样互补形式连接，保证正负半周的电流信号都可以导通。因数字信号与模拟信号需要隔离，所以，开关信号采用光耦元件来传递。ＲCD检测仪校准装置的采样与开关电路设计如图3所示。图3采样与开关电路ＲCD检测仪校准装置的时间测量电路相关参数指标，实现方面可由单片机处理器完成，但是兼顾考虑到单片机的定时器特性，其测量时间的精度本身存在误差，同时易受其他程序影响。当单片机处理任务较多的情况下，对测量时间精度控制将产生较大影响。因此，采用CPLD方式来实现，CPLD
【参考文献】：
[1]FDD-LTE技术和规划设计方法研究[J]. 章文卿. 无线互联科技. 2015(08)
[2]TD-LTE组网的关键技术及应用[J]. 许莹. 电子制作. 2013(10)
[3]锁相环CD4046的应用设计及研究[J]. 曾素琼. 电子质量. 2012(01)
[4]基于STM32的通用智能仪表设计与应用[J]. 孙启富,孙运强,姚爱琴. 仪表技术与传感器. 2010(10)
[5]RDC剩余电流保护装置测试仪概述及校准[J]. 孙坚,叶佳旻. 工业计量. 2010(S2)
[6]RCD剩余电流保护装置测试仪校准方法[J]. 魏武. 电子质量. 2008(11)
[1]漏电保护特性试验技术及其装置的研究[D]. 闫伟.河北工业大学 2011
[1]FDD-LTE技术和规划设计方法研究[J]. 章文卿. 无线互联科技. 2015(08)
[2]TD-LTE组网的关键技术及应用[J]. 许莹. 电子制作. 2013(10)
[3]锁相环CD4046的应用设计及研究[J]. 曾素琼. 电子质量. 2012(01)
[4]基于STM32的通用智能仪表设计与应用[J]. 孙启富,孙运强,姚爱琴. 仪表技术与传感器. 2010(10)
[5]RDC剩余电流保护装置测试仪概述及校准[J]. 孙坚,叶佳旻. 工业计量. 2010(S2)
[6]RCD剩余电流保护装置测试仪校准方法[J]. 魏武. 电子质量. 2008(11)
[1]漏电保护特性试验技术及其装置的研究[D]. 闫伟.河北工业大学 2011
本文编号：2894898
【文章来源】：计量技术. 2019年06期 第14-19页
【文章页数】：6 页
【文章类型】：期刊
【部分图文】：
ＲCD检测仪校准装置系统组成框图
2019年第6期·15·2主体电路及主要单元电路设计2.1ＲCD检测仪校准装置主体电路结构ＲCD检测仪校准装置主体电路结构如图2所示。图2ＲCD检测仪校准装置主体电路结构2.2主要单元电路2.2.1主控处理单元电路ＲCD检测仪校准装置的设备主控处理单元起着协调管理校准装置各硬件单元电路与软件程序算法数据处理的作用。其主控单元选用STM32F103作为主控处理器，外围电路包括:时钟ＲTC电路、USB转串口电路、触控液显接口电路、U8300通信模块电路、数据存储电路和声光报警电路等。本设计中所选用的STM32F103VC芯片，硬件资源丰富，由于本系统中需要使用3个串口，此款芯片带有四个串口，满足设计使用需求。该芯片［7－8］具有丰富的内存资源以及高速时钟，可以更好、更快地执行本装置中测量系统部分的剩余电流测量算法。2.2.2采样与开关电路及时间测量ＲCD检测仪校准装置的采样单元中选配高精度低温漂电阻，该电阻最大允许误差要达到±0.05%，电阻功率要求5W，温度系数优于±0.0025%/℃;校准装置的高速开关部分选择IＲF-PS40N50L，该MOS管具有低内阻、开关速度快、耐高压的特点。由于测量信号是交流信号，所以，开关电路设计需要使用两个MOS管，以采样互补形式连接，保证正负半周的电流信号都可以导通。因数字信号与模拟信号需要隔离，所以，开关信号采用光耦元件来传递。ＲCD检测仪校准装置的采样与开关电路设计如图3所示。图3采样与开关电路ＲCD检测仪校准装置的时间测量电路相关参数指标，实现方面可由单片机处理器完成，但是兼顾考虑到单片机的定时器特性，其测量时间的精度本身存在误差，同时易受其他程序影响。当单片机处理任务较多的情况下，对测量时间精度?
2.2.2采样与开关电路及时间测量ＲCD检测仪校准装置的采样单元中选配高精度低温漂电阻，该电阻最大允许误差要达到±0.05%，电阻功率要求5W，温度系数优于±0.0025%/℃;校准装置的高速开关部分选择IＲF-PS40N50L，该MOS管具有低内阻、开关速度快、耐高压的特点。由于测量信号是交流信号，所以，开关电路设计需要使用两个MOS管，以采样互补形式连接，保证正负半周的电流信号都可以导通。因数字信号与模拟信号需要隔离，所以，开关信号采用光耦元件来传递。ＲCD检测仪校准装置的采样与开关电路设计如图3所示。图3采样与开关电路ＲCD检测仪校准装置的时间测量电路相关参数指标，实现方面可由单片机处理器完成，但是兼顾考虑到单片机的定时器特性，其测量时间的精度本身存在误差，同时易受其他程序影响。当单片机处理任务较多的情况下，对测量时间精度控制将产生较大影响。因此，采用CPLD方式来实现，CPLD
【参考文献】：
[1]FDD-LTE技术和规划设计方法研究[J]. 章文卿. 无线互联科技. 2015(08)
[2]TD-LTE组网的关键技术及应用[J]. 许莹. 电子制作. 2013(10)
[3]锁相环CD4046的应用设计及研究[J]. 曾素琼. 电子质量. 2012(01)
[4]基于STM32的通用智能仪表设计与应用[J]. 孙启富,孙运强,姚爱琴. 仪表技术与传感器. 2010(10)
[5]RDC剩余电流保护装置测试仪概述及校准[J]. 孙坚,叶佳旻. 工业计量. 2010(S2)
[6]RCD剩余电流保护装置测试仪校准方法[J]. 魏武. 电子质量. 2008(11)
[1]漏电保护特性试验技术及其装置的研究[D]. 闫伟.河北工业大学 2011
[1]FDD-LTE技术和规划设计方法研究[J]. 章文卿. 无线互联科技. 2015(08)
[2]TD-LTE组网的关键技术及应用[J]. 许莹. 电子制作. 2013(10)
[3]锁相环CD4046的应用设计及研究[J]. 曾素琼. 电子质量. 2012(01)
[4]基于STM32的通用智能仪表设计与应用[J]. 孙启富,孙运强,姚爱琴. 仪表技术与传感器. 2010(10)
[5]RDC剩余电流保护装置测试仪概述及校准[J]. 孙坚,叶佳旻. 工业计量. 2010(S2)
[6]RCD剩余电流保护装置测试仪校准方法[J]. 魏武. 电子质量. 2008(11)
[1]漏电保护特性试验技术及其装置的研究[D]. 闫伟.河北工业大学 2011
本文编号：2894898
本文链接：https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianlilw/2894898.html
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