基于量子跃迁概率的绝缘子表面流注放电能量计算方法

发布时间：2021-04-09 23:03

　　绝缘子表面放电过程能量交换形式复杂,难以准确计算,绝缘子表面污闪尚未有准确的检测方法。为深入分析绝缘子表面放电过程,探索放电检测新方法,该文通过流注击穿理论和量子跃迁能量概率结合,研究绝缘子表面放电过程能量变化特征。从微观粒子能级的角度分析能量的输入与输出形式,结合流注理论对绝缘子临界击穿场强进行计算;将量子跃迁概率等效为统计意义下的比例,结合能级跃迁和微粒化学成分,从电离和跃迁的角度,提出放电能量的理论估算新方法。通过多组实验发现,理论估算的体系能量变化约为实测值的70%～80%,能在一定程度上定量描述污秽绝缘子表面流注放电体系的能量变化。 

【文章来源】：电工技术学报. 2020,35(17)北大核心EICSCD

【文章页数】：8 页

【参考文献】：
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硕士论文
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本文编号：3128466