正弦脉宽调制电压下聚酰亚胺绝缘寿命研究

发布时间：2021-05-27 10:06

　　在正弦脉宽调制（sinusoidal pulse width modulated,SPWM）电压下,实验研究了不同开关频率（6、12、18 kHz）和基波频率（10、50、100、150、200 Hz）对聚酰亚胺绝缘耐电晕寿命的影响,并与相同开关频率和不同占空比（10%、50%）重复脉冲方波下的耐电晕寿命进行对比。结果表明:50%占空比的重复脉冲方波可以用来代替SPWM波预测变频电机绝缘的耐电晕寿命,但不能准确反映其统计特性;耐电晕寿命随开关频率的增加而减少;100 Hz是耐电晕寿命的基波频率转折点,当基波频率小于100 Hz时耐电晕寿命随基波频率的增加而减少,当基波频率大于100 Hz时耐电晕寿命随基波频率的增加而增加。 

【文章来源】：绝缘材料. 2020,53(08)北大核心

【文章页数】：7 页

【文章目录】：
0 引言
1 实验平台与实验条件
2 SPWM波的产生
3 实验结果与分析
    3.1 SPWM波下的耐电晕寿命
    3.2 10%占空比重复脉冲方波与SPWM波下耐电晕寿命的比较
    3.3 50%占空比重复脉冲方波与SPWM波下耐电晕寿命的比较
4 基波频率转折点产生原因
5 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3207376