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基于反射光的LED结温检测技术与显微高光谱分析

发布时间:2021-07-20 19:50
  在半导体技术日益发展的今天,LED凭借其高效、低能耗、寿命长、性能稳定、绿色健康等诸多优点,成为了第四代照明光源,被广泛应用于室内照明、环境景观照明、汽车照明、指示灯、背景光源等领域。但是LED在热学管理方面仍面临诸多瓶颈,通常的功率型LED仅能将30%左右电能转化为光能,除此之外大量的能量将会作为热能耗散,从而引起P-N结温度升高,LED的光电特性产生明显改变,具体表现为发光效率降低、均匀性变差、光谱漂移等。长期工作在过高的结温下会引起器件可靠性降低、寿命减少等诸多问题,因此结温测试一直是LED研究的重点之一。而LED的表面通常被透镜或其他类型的封装材料覆盖,温度探测工具很难直接接触到P-N结或芯片表面,因此结温测试需要采用非接触式的方法。电学参数法是目前应用最广的结温测量方法,但这种方法需要通过改变LED工作状态来实现测量,对处在特定工作中的LED并不适用;光谱法、红外热成像法、热反射成像法通过光学检测实现,无需接触LED即可实现,但测试准确度往往欠佳。因此,开发一种非接触式高精度结温测试方法,并且可以在不中断或改变LED工作状态的情况下实现对结温的有效测量,是十分必要的。本文针对... 

【文章来源】:厦门大学福建省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:64 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于反射光的LED结温检测技术与显微高光谱分析


图1-1?lei)基本结构??

发光原理


<,m?y/??mm??图1-1?lei)基本结构??1.2.2?LED发光原理??LED是一种直接注入电流的发光器件,其发光主要由电子发射跃迁产生,??即半导体晶体内部受激电子从高能级回到低能级时辐射出光子能量。LED的核??心是一个P-N结,具有一般P-N结的伏安特性,此外在一定条件下它还具有发??光特性。处于平衡状态时,电子和空穴的漂移扩散速度相同,P区和N区之间具??有一定的势垒。在正向偏下,扩散电流大于漂移电流,势垒较低,产生载流子扩??散,电子和空穴发生转移从而形成非平衡少数载流子,注入的少子会和多子发生??复合,在此过程中能量将转换成光能辐射出来[1\电子和空穴的复合可分为两类:??一类是伴随光的辐射复合,另一类是不伴随光的非辐射复合。前者是由于空穴和??电子的复合以光的形式辐射能量

原理图,光栅分光,光谱系,高光谱


柯勒照明??图1-3光栅分光显微高光谱成像系统光路原理图??光栅分光显微局光谱成像系统是目前最常见的显微咼光谱系统,结构如图1?-??3所示,属于直视型显微高光谱系统,即同轴光学系统[201。平行于狭缝的光被显??微镜收集,经光栅和棱镜组合实现分光,在由CCD相机进行收集,获得一列像??素点的光谱信息,通过载物台推扫即可实现空间维的扫描,从而获得平面内的各??点的光谱。该系统构造简单,操作简洁,多适合静态物体的测量。??

【参考文献】:
期刊论文
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博士论文
[1]大视场光纤成像光谱仪光学系统研究[D]. 程欣.中国科学院研究生院(长春光学精密机械与物理研究所) 2012
[2]基于成像链分析的光谱成像系统设计方法研究[D]. 付强.中国科学院研究生院(西安光学精密机械研究所) 2012

硕士论文
[1]棱镜—光栅型光谱成像技术研究[D]. 陈洪福.中国科学院研究生院(长春光学精密机械与物理研究所) 2014



本文编号:3293477

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