聚酰亚胺/二氧化钛纳米复合薄膜制备与耐电晕性

发布时间：2024-03-30 07:12

　　采用原位聚合法制备不同TiO2组分聚酰亚胺(PI)/纳米TiO2复合薄膜,薄膜厚度50μm。测试结果表明,TiO2呈球状颗粒,直径约为100 nm,聚酰亚胺呈片状,尺寸约为2μm×1μm。随着TiO2含量的增加,复合薄膜介电常数和介电损耗增大,击穿场强先增加后降低;在40 kV/mm电场强度下,复合薄膜耐电晕老化寿命增加,纯PI薄膜寿命为3 h,20wt%TiO2含量薄膜寿命达到25 h;TiO2颗粒耐电晕能力强,与聚合物形成界面相,改变材料陷阱能级,有利于空间电荷的扩散和热量的传输,在薄膜表面形成放电阻挡层,降低局部放电对薄膜内部的侵蚀,显著提高薄膜耐电晕老化寿命。

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【文章目录】：
1 实验部分
    1.1 实验材料与仪器
    1.2 聚酰亚胺/Ti O2纳米复合薄膜的制备
    1.3 测试与表征
2 结果与讨论
    2.1 薄膜横断面形貌
    2.2 介电常数和介电损耗
    2.3 耐电晕性能
3 结论



本文编号：3941999