Nb掺杂(Na 0.5 Bi 0.5 ) 0.93 Ba 0.07 TiO 3 织构陶瓷电性能研究

发布时间：2024-04-18 23:52

　　织构技术是改善压电陶瓷性能的方法之一。采用模板籽晶生长法制备了不同Nb含量的(Na_0.5Bi_0.5)_0.93Ba_0.07Ti_1-xNb_xO₃(NBBT-xNb,x=0,0.015,0.020,0.025,0.030)织构陶瓷,系统研究了Nb含量对铁电、介电及电致应变性能的影响。结果表明,采用模板籽晶生长法能够制备出物相纯净的NBBT-xNb织构陶瓷,且陶瓷的织构度随着Nb含量增加先降低后略有增加。室温下,在x=0时电致应变达到了0.249%,与非织构样品相比提高了60%～80%。在x=0.015时室温电致应变值达到了最高值0.325%,并且Nb的掺入显著提高了NBBT织构陶瓷的热稳定性。此外,首次在NBT基织构陶瓷中观测到了新的介电异常现象。这些研究结果将有助于NBT基陶瓷的进一步研究。

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【文章目录】：
1 实验
2 结果与讨论
    2.1 物相分析
    2.2 室温铁电、电致应变
    2.3 变温电性能分析
    2.4 介电性能分析
3 结论



本文编号：3957914