基于数字全息的双包层光纤参数测量
本文关键词:基于数字全息的双包层光纤参数测量
更多相关文章: 数字全息 折射率测量 几何尺寸 特种光纤 分层算法
【摘要】:为了准确、快速和无损测量光纤的折射率分布和几何尺寸,基于数字全息显微层析技术构建了光纤参数的测量系统,包括优化的光路系统和软件分析系统。以双包层光纤为实验样品,由CCD记录最优数字全息图,通过单幅最优全息图提取光纤相位差分布,由分层算法重建光纤折射率并对其进行误差分析,采用基于边缘检测的算法对重建折射率进行误差校正和几何尺寸的提取。实验结果表明,与S14折射率测量仪和显微拍摄的光纤断面测量结果对比,本文方法重建的双包层光纤折射率差值与S14的测量结果吻合,几何尺寸优于S14的测量结果。
【作者单位】: 上海大学特种光纤与光接入网省部共建重点实验室;
【关键词】: 数字全息 折射率测量 几何尺寸 特种光纤 分层算法
【基金】:国家自然科学基金(61178088,61475098) 上海市科技创新行动计划(14511100100) 上海市科委科研计划(14440500100)资助项目
【分类号】:TN253
【正文快照】: 1引言光纤作为一种导光介质,在通信、传感、检测、精密测量和高能光纤激光器等领域得到了大量的应用。光纤折射率分布和断面尺寸是影响光纤的损耗、带宽、传感特性和通信性能的主要因素。因此,准确地测量光纤的折射率分布[1,2]和几何尺寸对于研究光纤性能的好坏具有重要的价值
【参考文献】
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【共引文献】
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4 王铮;辛t熿,
本文编号:1002054
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