半桥驱动芯片参数自动测试系统的设计

发布时间：2017-11-06 22:19

  本文关键词：半桥驱动芯片参数自动测试系统的设计

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【摘要】：半桥驱动芯片因为其体积小、可靠性高等优点已经被广泛应用于电机驱动、高频开关电源和电动汽车等高可靠性系统中。在不同的应用系统中,半桥驱动芯片的参数会因其应用环境的变化出现漂移,对系统的可靠性产生负面影响,所以在系统设计前应对半桥驱动芯片的参数进行准确测试。而传统的手工测试存在低效率、精度差和可复测性弱的缺点,无法准确的获得芯片的各项性能指标,所以研究高效率、高精度的半桥驱动芯片自动测试系统具有重要意义。半桥驱动芯片的核心参数包括静态参数、开关时间和dv/dt等。首先,本论文深入研究了典型的静态参数测试方案,发现其最大难点在于参数多、仪器分立,为了提升测试效率,采用LabVIEW进行模块化控制以完成静态参数的自动化测试。其次,本论文对开关时间测试电路进行了分析,分析结果表明其寄生参数会对动态参数测试精度产生不利影响,造成测试波形的震荡甚至损坏器件,因此本论文建立了包含寄生参数的测试电路模型,并利用Saber软件进行仿真,最终指导开关时间测试系统的设计。然后,本论文对传统的dv/dt测试电路进行改进,推导出满足设计指标的驱动电阻表达式,并给出了一种“源极开尔文接法”的dv/dt测试优化方案。最后,本论文通过编程实现软硬件结合,完成硬件的自动化控制和数据处理与分析,建立了高精度且自动化的动态参数测试系统。本论文构建了半桥驱动芯片的自动测试系统,实现了静态参数与动态参数的自动测试。实测结果显示,静态参数误差为5%,耗时小于20分钟,效率提升50%：动态参数误差在5%内,耗时2分钟,效率提升60%,dv/dt测试模块可以提供的dv/dt高达80V/ns,各项性能均满足设计指标。
【学位授予单位】：东南大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TN407

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本文编号：1149620