透射电镜与扫描电镜分析

发布时间：2018-01-03 01:42

  本文关键词：透射电镜与扫描电镜分析　出处：《无线互联科技》2016年23期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：文章简要介绍了透射电镜和扫描电镜两种当前主要的电子显微分析方法的应用,比较了它们的结构和工作原理,讨论了各自的应用范围以及发展方向,指出将两者有机结合可以得到比较全面的材料分析结果。
[Abstract]:This paper briefly introduces the application of the two methods of analysis of the main current electron microscopy transmission electron microscopy and scanning electron microscopy, compare their structure and working principle, discusses the application range and the direction of development, pointed out that the combination of the two materials can get more comprehensive results.

【作者单位】： 陕西工业职业技术学院材料工程学院;
【基金】：项目名称:基于材料分析与检测技术手段的课程考核改革与应用—材料现代分析测试技术;项目编号:14KCGG-001
【分类号】：TN16
【正文快照】： 现如今,具有高分辨率的透射电子显微镜(TransmissionElectron Microscope,TEM)和扫描电镜(Search EngineMarketing,SEM)在材料分析研究中的应用日趋广泛,已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。但是,目前对其综合分析的文章比较少见,所以,笔者

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本文编号：1371848