轻量级现场纠正的错误消除寄存器设计

发布时间：2018-01-04 17:27

  本文关键词：轻量级现场纠正的错误消除寄存器设计　出处：《浙江大学学报(工学版)》2017年03期 　论文类型：期刊论文

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【摘要】：针对时序错误实时检测和纠正技术中存在的检错成本和纠错性能问题,提出一种基于轻量级现场纠错技术的错误消除寄存器.错误消除寄存器采用自带的内部虚拟节点作为错误检测点,以无额外成本的方式实现时序错误的实时检测;基于观测到的高低电平信息,直接在寄存器内部进行错误纠正,通过仅增加4个额外晶体管的代价,完成即时的现场纠错.错误消除寄存器没有使用复杂的外置翻转探测电路进行错误检测,并且也没有使用额外的存储单元用于错误纠正,因此引入的额外面积和额外功耗极低.为评估错误消除寄存器的时序容错能力和电路效率提升能力,在中芯国际40nm工艺下将该寄存器集成到商用嵌入式处理器CK802中进行实验.实验结果表明,错误消除寄存器大幅度降低了容错处理器的面积成本和性能损失,相比现有技术,在同电压下有10.9%的性能提升,在同性能下有17.7%的功耗优化.
[Abstract]:An error eliminating register based on lightweight field error correction technique is proposed for error detection and error correction in timing error real - time detection and correction . The error elimination register uses the internal virtual node as the error detection point to realize the real - time detection of timing error without extra cost .

【作者单位】： 浙江大学电气工程学院;复旦大学微电子学院;
【基金】：国家“863”高技术研究发展计划资助项目(2015AA016601-005) 上海市自然科学基金资助项目(15ZR1402700) 专用集成电路与系统国家重点实验室重点资助项目(2015ZD005)
【分类号】：TN402
【正文快照】： 现代集成电路受工艺、电压和温度(process,voltageand temperature,PVT)等因素的影响,具有较大的不确定性.PVT波动会引起时序路径延时发生变化,导致一些关键路径的延时不能满足要求,从而使电路不能正常工作[1].为维护电路的稳定性和可靠性,目前主流的设计方法是增加足够的冗余，

本文编号：1379386