基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层
本文关键词: 安全芯片 主动屏蔽层 聚焦粒子束 侵入式攻击 出处:《电子技术应用》2017年07期 论文类型:期刊论文
【摘要】:安全芯片通常在芯片顶层布满主动屏蔽层,以防止侵入式物理探测、攻击篡改芯片部分功能模块,从而获取芯片内部存储的关键数据和敏感信息。本文提出了一种基于FIB技术攻击芯片主动屏蔽层的方法,对现有静态或动态检测的主动屏蔽层的安全芯片,均可避开主动屏蔽层的检测实施攻击。该方法简易直接,可操作性极强,对芯片的安全设计和攻击具有重要的现实意义。使用该攻击方法,成功实现对智能IC卡进行侵入式攻击,探测到芯片RAM存储器输出数据信号,并重新激活了芯片测试模式。
[Abstract]:Security chips are usually covered with active shielding layers on the top of the chip to prevent intrusive physical detection and attack some functional modules of the tampering chip. In order to obtain the key data and sensitive information stored inside the chip, this paper presents a method based on FIB technology to attack the active shielding layer of the chip. The method is simple and direct, and has strong maneuverability, which is of great practical significance to the security design and attack of the chip. The intrusion attack on the intelligent IC card was successfully realized, the output data signal of the chip RAM memory was detected, and the chip test mode was reactivated.
【作者单位】: 北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室;北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心;国家电网公司信息通信部;国网宁夏电力公司;
【基金】:基金项目:基于JAVA的高安全电力金融多应用智能卡关键技术研究(526816160016)
【分类号】:TN40
【参考文献】
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,本文编号:1503130
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