用于数模混合电路中ADC测试的IP核设计

发布时间：2018-02-12 21:42

  本文关键词： IP核 模数转换器 片上系统 混合电路测试 噪声测量　出处：《微电子学》2016年06期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：针对片上系统(SoC)中模数转换器(ADC)的测试,提出了一种测试IP核结构。IP核主要由模拟信号源、换位器和标准数模转换器(DAC)等组成,能够根据设计者不同的需求选择不同的测试方案。针对ADC的低位呆滞故障以及跳变故障的检测,提出了一种新的检测方法,解决了ADC低位故障检测困难的问题,该方法还可以用于对电压稳定度以及噪声的测量。通过对IP核数字电路部分的设计与仿真,证明IP核是可行的。
[Abstract]:In view of the test of A / D converter (ADC) in SoC (system on Chip), a test IP core structure. The IP core is mainly composed of analog signal source, commutator and DAC, etc. According to different requirements of designers, different test schemes can be selected. A new detection method is proposed for the detection of low level stagnant faults and jump faults of ADC, which solves the difficult problem of ADC low level fault detection. The method can also be used to measure the voltage stability and noise. The design and simulation of the digital circuit of IP core show that the IP core is feasible.
【作者单位】： 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院;
【分类号】：TN792

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