多谱段线列红外探测器读出电路设计优化

发布时间：2018-05-02 08:45

  本文选题：多谱段集成 + TDI线列　； 参考：《激光与红外》2017年06期

【摘要】：集成电路制造技术的发展使单芯片集成多谱段红外探测器成为可能,其中长线列红外探测器读出电路设计遇到的挑战之一就是寄生效应。针对一款多谱段长线列用读出电路在最小积分电容时行间输出电平差异显著,导致成像出现明暗条纹的现象进行了测试分析,得出复杂的电路版图寄生效应是主要原因。通过优化设计及流片验证,解决了寄生效应导致的成像明暗条纹问题。
[Abstract]:With the development of IC manufacturing technology, it is possible to integrate multi-spectral infrared detectors on a single chip. One of the challenges in the design of readout circuits for long-line infrared detectors is parasitic effect. In this paper, the difference of output level between lines in a multispectral long line readout circuit with minimum integral capacitance is significant, which leads to the appearance of bright and dark stripes in imaging. The main reason is the parasitic effect of complex circuit layout. The problem of imaging light and dark fringe caused by parasitic effect is solved by optimizing design and verification of flowsheet.
【作者单位】： 华北光电技术研究所;
【分类号】：TN215

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本文编号：1833208