用于DP-QPSK系统的高速ADC的验证方法

发布时间：2018-05-08 17:55

  本文选题：双偏振正交相移键控 + 模数转换芯片　； 参考：《光通信技术》2017年05期

【摘要】：介绍了一种在高速相干光通信系统中验证模数转换芯片(ADC)的方法。该方法将待测ADC的数据导入Optisystem软件中对112Gb/s双偏振正交相移键控(DP-QPSK)的系统进行仿真。验证了该方法的可行性,并对33GS/s 6比特的ADC的光信噪比(OSNR)容限测试结果进行了讨论。
[Abstract]:A method to verify an analog to digital conversion chip (ADC) in a high speed coherent optical communication system is introduced. This method simulates the system of 112Gb/s dual polarization quadrature phase shift keying (DP-QPSK) in the Optisystem software to be measured in the Optisystem software. The feasibility of this method is verified and the optical signal to noise ratio (OSNR) tolerance of the 33GS/s 6 bit ADC is measured. The test results were discussed.

【作者单位】： 厦门优迅高速芯片有限公司;
【基金】：国家863计划(课题编号:2013AA014102)资助
【分类号】：TN792;TN929.1

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本文编号：1862406