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基于UVM的功能覆盖率驱动SDIO IP验证

发布时间:2018-05-09 20:29

  本文选题:SDIO + UVM ; 参考:《微电子学》2017年03期


【摘要】:在研究SDIO接口协议的基础上,采用以功能覆盖率驱动的验证方法和UVM验证方法学,构建了一个完整的SDIO IP验证平台。在自测试仿真实验中,通过各种测试用例,最终实现了功能覆盖率的收敛。仿真结果表明,该平台可以用于验证复杂的SDIO接口协议,且具有可复用性,可用于SoC系统的验证,缩短验证流程。
[Abstract]:Based on the research of SDIO interface protocol, a complete SDIO IP verification platform is constructed by using the function coverage driven verification method and the UVM verification methodology. In the self-test simulation experiment, the convergence of function coverage is realized through various test cases. The simulation results show that the platform can be used to verify the complex SDIO interface protocol, and can be reused to verify the SoC system and shorten the verification process.
【作者单位】: 合肥工业大学微电子设计研究所;
【基金】:国家自然科学基金资助项目(61204024)
【分类号】:TN40

【参考文献】

相关期刊论文 前1条

1 褚晓滨;陆铁军;宗宇;;结合断言与覆盖率为导向的验证方法[J];微电子学与计算机;2008年11期

【共引文献】

相关期刊论文 前10条

1 倪伟;王笑天;;基于UVM的功能覆盖率驱动SDIO IP验证[J];微电子学;2017年03期

2 薛利强;于真;;基于总线功能模型的全系统FPGA验证环境设计[J];航空发动机;2017年01期

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【二级参考文献】

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1 王赵君;沈海华;;龙芯2号配套PCI Bridge的功能覆盖率验证[J];计算机工程;2006年11期

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3 黄卫华,朱向东,沈绪榜;一种高速USB设备控制器IP核的设计与实现[J];微电子学与计算机;2005年05期

4 杜慧敏,曾泽沧,韩俊刚,沈绪榜;构造特定应用领域芯片验证环境的方法讨论[J];微电子学与计算机;2004年06期

【相似文献】

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2 ;[J];;年期



本文编号:1867313

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