Y波导调制器残余强度调制的测量

发布时间：2018-05-25 18:43

  本文选题：集成光学 + Y波导调制器　； 参考：《半导体光电》2017年02期

【摘要】：为了便于分析Y波导调制器残余强度调制的产生机理,提出一种Y波导调制器残余强度调制的测试方法。系统采用Spartan-6系列的FPGA作为主控芯片,控制模数转换芯片ADS5560对经光电转换后的调制光信号进行采集,将采集到的数据打包后通过UART通信模式发送至PC机,获取Y波导调制器残余强度调制大小及波形信息。根据残余强度调制大小和波形信息分析模场改变引起的线性和杂散光与输出光的干涉两种机理产生的残余强度调制所占比例。测试结果表明,系统稳定性良好,对于Y波导调制器的开发有重要意义。
[Abstract]:In order to analyze the mechanism of residual intensity modulation of Y-waveguide modulator, a measurement method of residual intensity modulation of Y-waveguide modulator is proposed. The system uses FPGA of Spartan-6 series as the main control chip, and controls the A / D conversion chip ADS5560 to collect the modulated light signal after photoelectric conversion. The collected data is packaged and sent to PC through UART communication mode. The residual intensity modulation and waveform information of Y waveguide modulator are obtained. According to the magnitude of residual intensity modulation and waveform information, the proportion of residual intensity modulation caused by linear and stray light and interference between output light and mode field is analyzed. The test results show that the stability of the system is good, which is of great significance to the development of Y waveguide modulator.
【作者单位】： 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院;
【分类号】：TN761

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本文编号：1934260