采用APD单光子阵列读出集成电路的红外测距技术

发布时间：2018-08-23 10:10

【摘要】：红外单光子探测因其超高的检测灵敏度和信噪比,有效提升了弱光检测系统的性能水平。基于TSMC 0.35μm CMOS工艺,提出了一种阵列型数字式红外读出电路及其应用系统的设计方法。采用由OSC多相时钟构成的低段全局共享TDC和高段像素独享TDC的两段式阵列结构,在170 MHz时钟频率下,实测获得了小于1 ns的时间分辨率和3μs的量程,并在1 k Hz的帧率下采用串行模式输出数据,经相关数据处理,最终实现测距轮廓成像的功能。
[Abstract]:Because of its high detection sensitivity and signal-to-noise ratio, infrared single photon detection can effectively improve the performance of weak light detection system. Based on TSMC 0.35 渭 m CMOS process, an array digital infrared readout circuit and its application system are presented. The low segment global shared TDC composed of OSC multiphase clock and the high segment pixel exclusive TDC two-segment array structure are adopted. At 170 MHz clock frequency, the time resolution of less than 1 ns and the range of 3 渭 s are obtained. The serial mode is used to output the data at the frame rate of 1 kHz, and the function of ranging contour imaging is finally realized by processing the relevant data.
【作者单位】： 东南大学无锡分校;东南大学微电子学院;
【基金】：江苏省自然科学基金(BK2012559)
【分类号】：TN215;TN312.7

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：2198734