线列CCD光电响应率测试

发布时间：2018-12-15 18:58

【摘要】：在介绍CCD工作原理基础上分析了CCD响应率的定义以及测试方法,设计制作了小光点线列CCD响应率的测试系统,给出了测试系统的构造及测试过程,选择2 856K标准光源并恒定照度,通过改变CCD的积分时间改变CCD的曝光量,从而改变CCD的输出信号,从CCD响应曲线的线性区可以拟合出CCD的响应率。测试结果表明该系统能够完成CCD响应率的测试且结构简单。
[Abstract]:On the basis of introducing the working principle of CCD, the definition and testing method of CCD responsivity are analyzed, the test system of CCD response rate of small light spot line is designed and made, and the construction and testing process of the test system are given. By changing the integral time of CCD and changing the exposure of CCD, thus changing the output signal of CCD, the response rate of CCD can be fitted from the linear region of the CCD response curve by selecting 2856K standard light source and constant illuminance. The test results show that the system can complete the CCD responsivity test and the structure is simple.
【作者单位】： 电子科技大学光电信息学院;
【基金】：电子科技大学本科教学改革研究项目(Y02012023701215,Y02012023701167)
【分类号】：TN386.5

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本文编号：2381133