考虑输入占空比和随机性的M-IVC缓解电路老化

发布时间：2019-01-16 02:28

【摘要】：针对现有多输入向量控制(M-IVC)缓解负偏置温度不稳定性(NBTI)引起的电路老化的方法仅考虑到输入信号占空比约束的问题,提出一种同时优化输入信号占空比和随机性的M-IVC方法.首先采用遗传算法求解出电路的最优输入占空比;然后在最优占空比约束下产生具有随机性的各输入信号波形;最后构成多输入控制向量,依次应用到待机模式下电路的输入.采用相同的晶体管工艺模型和ISCAS85基准电路的实验结果表明,与现有M-IVC方法相比,文中方法能更好地缓解电路NBTI老化;可降低电路平均老化时延增量,分别达到45.9%和32.7%;而且随着电路待机时间的增加,该方法的抗老化效果变得越好.
[Abstract]:In view of the existing multi-input vector control (M-IVC) methods to mitigate the circuit aging caused by the negative bias temperature instability (NBTI), only the input signal duty cycle constraints are considered. A M-IVC method is proposed to optimize both duty cycle and randomness of input signals. First, the optimal input duty cycle of the circuit is solved by genetic algorithm; then the random input signal waveforms are generated under the optimal duty cycle constraint; finally, the multi-input control vector is constructed and applied to the input of the circuit in standby mode in turn. The experimental results of the same transistor process model and ISCAS85 reference circuit show that compared with the existing M-IVC method, the proposed method can better alleviate the NBTI aging of the circuit. The average aging delay increment of the circuit can be reduced to 45.9% and 32.7%, respectively, and the anti-aging effect of the method becomes better with the increase of circuit standby time.
【作者单位】： 合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
【基金】：国家自然科学基金(61371025,61574052,61474036)
【分类号】：TN406

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本文编号：2409368