基于相同数据位的SoC测试数据压缩方法

发布时间：2019-03-18 21:34

【摘要】：随着VLSI技术的不断发展,集成电路所需的测试数据量也在不断增加,给测试带来了一系列问题,对自动测试设备(ATE)的存储容量提出了挑战,有限的带宽延长了测试数据传输时间。为此,提出了一种针对相同数据位的测试数据压缩及解压算法。数据位为全0或全1的数据块,编码压缩为仅为两位的控制位和编码位,与同类经典方案相比,实验表明该方案有效提高了测试数据压缩率,平均压缩率达到63.58%,且编码算法简单。
[Abstract]:With the continuous development of VLSI technology, the amount of test data required for integrated circuits is increasing, which brings a series of problems to the test, and challenges the storage capacity of the automatic test equipment (ATE). The limited bandwidth extends the test data transmission time. Therefore, a test data compression and decompression algorithm for the same data bit is proposed. When the data bit is all 0 or 1, it is compressed into control bit and coding bit with only two bits. Compared with the classical scheme of the same kind, the experimental results show that this scheme effectively improves the compression ratio of test data, and the average compression rate reaches 63.58%. And the coding algorithm is simple.
【作者单位】： 巢湖学院;
【基金】：巢湖学院校级科研资助项目(项目编号:XLY-201409) 安徽省省级教学研究项目(项目编号:2014jyxm331) 安徽省省级特色专业计算机科学与技术省级特色专业(项目编号:2013tszy020) 安徽省高校省级教学团队(项目编号:2016jxtd083)
【分类号】：TN407

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本文编号：2443262