基于双金属纳米颗粒悬浮栅极的有机场效应晶体管非易失性存储器研究
【图文】:
场效应晶体管非易失性存储器的结构变祷稍微复杂了一些。在研究中,为了简化逡逑工艺流程,人们通常采用底栅顶接触型[24,邋33和顶栅底接触型口3,,邋3巧两种结构制逡逑备有机场效应晶体管非易失性存储器。图1-1给出了这两种器件结构的示意图,其逡逑中图M(a)所示为底栅顶接触型器件结构,图l-l(b)所示为顶栅底接触型器件结构。逡逑2逡逑
逦巧1草逡逑性曲线和重复擦写特性曲线来得到这些性能参数。图1-2展示了典型的并五苯有机逡逑场效应晶体管非易失性存储器的转移特性曲线。逡逑^逦\逦I邋iprogrammed逡逑\邋单1;£'邋!逦\邋一—erased逡逑■邋?逦3邋-逦I逦\逦\逦"邋?邋programmed逦-逡逑C逦\逦导逦I逦.….'份,?-?逡逑C>邋erased^邋^邋\逡逑40逦-20邋■0邋*逦20逦40逡逑Gate邋Bias邋(V)逡逑图1-2器件的转移特性曲线逡逑在图1-2中,绿色曲线对应于有机场效应晶体管非易失性存储器的初始转移特逡逑性曲线——在较小的栅极电压范围内(不足W对器件进行擦写操作)进行扫描测试,逡逑W确定初始闽值电压FT_i。这时电荷存储层中尚未发生电荷注入过程。红色和蓝色逡逑曲线分别对应于器件在写入(Fg邋=邋45V,Is)和擦除(Fg邋=邋-45V,Is)操作W后的转移逡逑特性曲线,可W利用它们得到相应的阀值电压这里有三点需要指出:逡逑第一,在转移特性曲线的测试过程中,漏极电压一直设置为-3邋V,保证器件工作在逡逑线性区。第二,通过对转移特性曲线线性部分作切线的方式来确定阔值电压,如逡逑图1-2中黑色虚线所示。第H
【学位授予单位】:苏州大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TN386
【共引文献】
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本文编号:2545172
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