复杂电子装备故障模式及影响分析方法研究

发布时间：2020-02-18 10:27

【摘要】：本文针对复杂电子装备故障诊断实用化过程中存在的故障模式缺乏问题,提出了针对电路不同层次结构的故障模式分析方法。该方法将电路划分为器件层、电路层和系统层3个层次,对于器件层故障模式分析,采用硬件加速应力实验分析其失效模式;对于电路级和系统级故障模式分析,设计并开发了通用型电子装备边界特性测试系统,该系统能够对各类电子设备进行极限边界特性测试,并可获得设备超边界后的故障模式及相应的检测方法。利用本文提出的故障模式分析方法,能够对电子系统各个层次的故障模式进行全面的获取和分析,从而为故障诊断方法实用化进程奠定基础。

【参考文献】

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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本文编号：2580686