金电极片式NTC热敏电阻的烧结、电极制备工艺研究
【图文】:
第二章 片式 NTC 热敏电阻的工艺研究设计二章 片式 NTC 热敏电阻的工艺研究设对 NTC 热敏电阻的研究已经成为一个热点。NTC Co、Ni 等过渡金属元素为主的 Mn 系尖晶石半导体性能影响非常大[28],因此工艺研究非常重要。本的制备方法和制备过程。C 热敏电阻的制备样品结构
(a) (b)图 3-1 1 组、2 组 DPA 制样图与电镜图(a)1 组、2 组 DPA 制样图;(b) 950℃~980℃下样品电镜图通过图 3-1(a)和图 3-1(b),可以明显看到,当烧结温度在 950℃~980℃时,DPA制样图片中 2#、3#、4#、5#不同程度出现了中间深,四周浅,俗称D夹心层 的特征。电镜图中出现大量气孔,这是由于样品没有充分烧结,陶瓷基体内部还存在大量堆积的气体,出现的气孔。这是样品的陶瓷基体没有烧透,欠烧的明显特征。出现这个问题,往往是烧结温度过低,,或者烧结时间过短,引起烧结不充分导致的。结合表 3-1 中的研究数据,外观、吸水性差。可以断定,烧结温度在 950℃~980℃的实验样品属于欠烧结。将 3 组、4 组、5 组样品随即抽取 5 只进行 DPA 制样,在放大 60 倍的高倍放大镜下观察 6#~10#的实验样品,照片如图 3-2(a)和图 3-2(b)所示。
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TN37
【参考文献】
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本文编号:2616981
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