当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

对比SBD、JBS、PiN以及对JBS特性改进可能性的分析

发布时间:2020-04-07 05:36
【摘要】:在功率系统中,小的正向开启电压、低反向漏电流、高开关速度和高反向击穿电压是一个良好的整流器件需要具备的条件。对于SiC功率二极管来说,目前的研究重心在SBD、PiN与JBS上。对于肖特基势垒二极管的研究自1975年第一只6H-SiC SBD以来一直持续至今。随着碳化硅的单晶材料与外延质量以及碳化硅工艺水平的提高,优越性能的SiC SBD以及其应用也不断被报道。JBS是一种基于SBD的改进器件,利用PN结势垒来降低隧穿电流对击穿电压的限制,因此在正向模式下由于把肖特基势垒作为主要导电部分,因此获得较高正向电流,而反向模式下具有比SBD更低的反向电流。以上特质使SiC JBS在高压、高速领域都具有广泛应用前景,受到广泛关注。本文主要工作是先对PiN二极管和SBD二极管的物理结构进行分析,分析正反向特性曲线,并根据对应公式分析器件开关速度、正向压降、反向击穿电压等关键要素的影响因素。接着选定器件模拟软件,设定好参数,外接电路,测出正反向特性曲线,并根据之前的猜测改变单一条件得到多条特性曲线,对比可以分析出器件导通特性的改进方法。
【图文】:

二极管,肖特基二极管,耗尽区,反偏


是为了提高肖特基二极管的反向阻断特性,而后为了改善高压硅整流器的正反逡逑向特性提出了混合PiN与肖特基二极管结构即MPS,随着进一步发展,JBS与逡逑MPS的区分淡化,都用TOS来叙述。JBS的物理结构如图1-3,邋PN结集成在肖逡逑特基结构中,JBS正向偏置时,PN结空间电荷区变窄,JBS在低电压下首先开逡逑启,但此时PN结无法开启,此时JBS正向特性主要由肖特基二极管特性决定;逡逑而当JBS反偏时,PN结形成耗尽区,这会使N型区域扩展,在一定的反偏电逡逑压下,相邻PN结耗尽区会联通,并且随着反向偏压增加,耗尽层会更加向AT逡逑3逡逑

特性曲线,元胞,二极管,结构示意图


逦华北电力大学硕士学位论文逦逡逑第二章PiN工作原理及特性曲线分析逡逑木章主要介绍PiN二极管的物理结构,分析可以描述器件开关特性的重要逡逑参数与计算公式,进一步仿真静态与动态特性曲线,并研究物理结构对特性曲逡逑线的影响。逡逑2.1邋PiN的物理结构与工作原理逡逑相比于肖特基器件,SiC邋PiN二极管器件具有更大高压应用潜力。因为有逡逑少子注入效应,SiC邋PiN二极管有更小的导通电阻与更大的电流导通能力。与逡逑此同时,因为器件的导通压降不由掺杂浓度和外延厚度决定,这就为器件设计逡逑提供更多便利。与穿通型肖特基器件相比,,PiN二极管漏电流更小,更容易实逡逑现高电压阻断。逡逑枿幅
【学位授予单位】:华北电力大学(北京)
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TM461;TN31

【相似文献】

相关期刊论文 前10条

1 于滨铎;;自制电压分档调节开关[J];电气时代;1989年06期

2 王范;;晶体管反向击穿电压测试器[J];家电检修技术;2008年03期

3 王松德,智艾娣;自制半导体元件反向击穿电压测量仪[J];实验教学与仪器;1996年05期

4 龚红;马奎;傅兴华;丁召;杨发顺;;一种超结高压肖特基势垒二极管[J];半导体技术;2014年09期

5 吴汉清;;晶体管反向击穿电压测试附加器[J];电子制作;1997年12期

6 闫丽红;王永顺;刘缤璐;;10A/300V JBS整流管设计[J];电子科技;2018年08期

7 应海雄;陈隆道;郑家龙;;高压二极管反向击穿电压特性测试仪[J];电测与仪表;1993年08期

8 李强,王俊宇,韩益锋,闵昊;标准CMOS工艺集成肖特基二极管设计与实现(英文)[J];半导体学报;2005年02期

9 艾立濵;徐安怀;孙浩;朱福英;齐鸣;;新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究[J];固体电子学研究与进展;2010年01期

10 江利,王建华,黄庆安,秦明;PIN二极管的研究进展[J];电子器件;2004年02期

相关会议论文 前1条

1 孙树梅;曾祥斌;袁德成;梁湛深;肖敏;;高压铂扩散快恢复二极管的研究[A];2006中国电工技术学会电力电子学会第十届学术年会论文摘要集[C];2006年

相关重要报纸文章 前3条

1 江西 尹石荪;再答麻继超先生[N];电子报;2015年

2 广西 蒋建军;双向触发管的几种代换方法[N];电子报;2003年

3 无锡 小坡;一款简易夜光灯的制作[N];电子报;2002年

相关硕士学位论文 前10条

1 刘雪莹;对比SBD、JBS、PiN以及对JBS特性改进可能性的分析[D];华北电力大学(北京);2018年

2 徐少东;超高压4H-SiC JBS二极管设计和实验研究[D];电子科技大学;2018年

3 何丽丽;退火处理对肖特基二极管反向击穿电压影响的研究[D];哈尔滨理工大学;2007年

4 王智;快恢复二极管的研究[D];电子科技大学;2012年

5 张师师;SiC SBD的工艺研究及利用Silvaco模拟特性[D];辽宁大学;2011年

6 王一帆;10A/300V、400V JBS 二极管的设计和制备[D];兰州大学;2012年

7 于祝鹏;穿通结构三极管BV_(CEO)仿真分析及一致性提高研究[D];电子科技大学;2010年

8 岳红菊;5A/200V JBS整流管的设计[D];兰州大学;2009年

9 邬瑞彬;n型6H-SiC金半接触及相关工艺研究[D];四川大学;2003年

10 江利;微波PIN二级管的设计与制备工艺研究[D];合肥工业大学;2005年



本文编号:2617517

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2617517.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户510d5***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com