当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

中红外穆勒矩阵椭偏测量系统研究

发布时间:2020-04-08 03:05
【摘要】:红外材料在固体物理、分子化学、薄膜生长、生物医药和国防等领域应用非常广泛,其光学常数对其功能、性能具有重要意义。作为一种非破坏性、高精度、高灵敏度的测量手段,红外椭偏仪能够实现中红外宽谱段材料光学常数的快速表征,同时还能够获得样品声子振动、自由载流子迁移和分子振动等信息,因此广泛应用于红外薄膜材料的表征。红外穆勒矩阵椭偏仪能够在一次测量过程中获得样品的全部穆勒矩阵元素,因此在各向异性红外材料的表征中展现出很大优势。本学位论文围绕傅里叶变换中红外穆勒矩阵椭偏仪展开研究,主要研究工作及创新点包括:首先,根据红外各向异性薄膜材料测量需求以及中红外穆勒矩阵椭偏仪研究现状,提出傅里叶变换中红外穆勒矩阵椭偏测量方法,并提出对消色差延迟器和高消光比偏振器进行设计。其次,建立了傅里叶变换中红外穆勒矩阵椭偏仪系统模型,利用条件数对步进式偏振调制的系统配置矩阵进行优化以减小误差传递,提出了适用于该仪器的校准方法,并通过仿真实验验证了系统模型、优化结果和校准方法的可行性与正确性。再次,完成了仪器光学系统设计,设计了适用于中红外波段的消色差相位延迟器,使用双金属线栅偏振片实现了偏振器的高消光比,并完成了仪器结构和控制系统设计。最后,完成了傅里叶变换中红外穆勒矩阵椭偏测量系统的搭建,并利用所研制的仪器对空气和二氧化硅标准薄膜样品进行测量,实现了1.5~5.5μm薄膜样品的全穆勒矩阵测量,单点测量时间为3min,穆勒矩阵测量精度为±0.06。
【图文】:

红外探测,碲镉汞,实物


科 技 大 学 硕 士 学 位 ,便于进行系统集成,输出接近准直的输谱稳定性好,光源寿命长达 10000 小时块采用氟化钙作为分束器材料,其光谱式反射器设计,光谱分辨率为 4cm-1,在干涉仪信噪比大于 3000:1,出射光束发动和温度不敏感,,结合光源模块,傅里的选择。汞红外光伏探测器,具体结构如图 3-3 所积为 1mm,允许发散半角为 28mrad,进行配合使用。该探测器在中红外区域本率高,噪声小,探测率高,响应波段宽,因此是较为理想的探测器选择。
【学位授予单位】:华中科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN219;TH74

【参考文献】

相关期刊论文 前10条

1 郭春;林大伟;张云洞;李斌成;;光度法确定LaF_3薄膜光学常数[J];光学学报;2011年07期

2 周毅;吴国松;代伟;李洪波;汪爱英;;椭偏与光度法联用精确测定吸收薄膜的光学常数与厚度[J];物理学报;2010年04期

3 谷玉海;乔道鄂;徐小力;;自动扫描多光栅单色仪系统研制[J];仪器仪表学报;2009年03期

4 肖丙刚;申溯;邸岳淼;;棱镜耦合法测量负折射率材料光学特性理论研究[J];光子学报;2007年07期

5 杨坤;王向朝;步扬;;椭偏仪的研究进展[J];激光与光电子学进展;2007年03期

6 沈海军,穆先才;纳米薄膜的分类、特性、制备方法与应用[J];微纳电子技术;2005年11期

7 王静,李向阳,刘骥,黄志明;GaN外延膜的红外椭偏光谱研究[J];红外与激光工程;2005年05期

8 沈伟东,刘旭,朱勇,邹桐,叶辉,顾培夫;用透过率测试曲线确定半导体薄膜的光学常数和厚度[J];半导体学报;2005年02期

9 黄佐华,何振江;测量薄膜厚度及其折射率的光学方法[J];现代科学仪器;2003年04期

10 马格林,曹全喜,黄云霞;红外和雷达复合隐身材料——掺杂氧化物半导体[J];红外技术;2003年04期

相关博士学位论文 前3条

1 谷洪刚;宽带复合波片优化设计与性能表征方法及其应用研究[D];华中科技大学;2016年

2 常金涛;生物体系偏振测量系统的设计[D];清华大学;2016年

3 沈健;生物医用高分子材料的研制及其基础研究[D];南京理工大学;2004年

相关硕士学位论文 前2条

1 乔明霞;薄膜光学常数和厚度的透射光谱法测定研究[D];四川大学;2006年

2 赵秋玲;消色差相位延迟器的测试研究与性能优化设计[D];曲阜师范大学;2001年



本文编号:2618797

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2618797.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户3f739***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com