数字集成电路测试系统驱动程序的设计及实现
发布时间：2021-02-13 04:00
随着科学技术的进步,集成电路产业取得了飞速的发展。作为保证集成电路性能和质量的重要手段,集成电路测试技术得到了深入地研究。数字集成电路测试系统是对数字集成电路电气参数、工作性能测试的重要工具。随着集成电路集成度的提高和引脚的逐渐增多,一块集成电路所提供的功能日益庞大,集成电路测试系统需要能提供更强大的测试功能以满足测试需求。本文实现了数字集成电路测试系统驱动程序的设计,可有效地配合界面实现对测试机硬件系统的控制,完成对数字集成电路的相应测试。本文采用分层设计的思想,使驱动程序具有更好的扩展性和维护性。本文对数字集成电路测试系统驱动程序进行了以下研究:（1）本文分析了数字集成电路测试中直流参数测试和功能测试的测试过程,总结了驱动程序中驱动接口总体的调用流程,并针对硬件设备上测试板卡提供的存储空间不足的情况,设计了时序集参数动态导入和历史记录参数动态读取的软件流程,以支持更多的向量集进行功能测试。根据集成电路测试原理和上述测试流程,本文总结了测试过程中所需的功能接口,并完成了驱动程序的框架设计。（2）本文将驱动程序分为了器件层、功能层和系统层。其中器件层负责提取测试板卡上基础器件类,并提供...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：83 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
J750Ex-HD测试仪
图 1-1 J750Ex-HD 测试仪万(Advantest)公司，成立于 1954 年，其产品主要测试机等。为满足超大规模片上系统集成电路列测试仪可通过板卡的扩展，测试通道可达到也可以根据不同测试要求选择相应测试板卡。
再通过驱动程序批量写入各个数字电路测试板卡的存储器中供测试时使用。图2-9 中可以看到，向量集中的四条向量中都使用了命名为“TSB0”的时序。但在实际的集成电路测试中，特别是面向大规模数字集成电路的测试中，测试所需的向量集会很庞大，所需的时序会很多，可能会有“TSB1”、“TSB2”等等。因此，在编译器的设计中，向量集二进制文件的存储格式可以有两种设计方式。第一种方式是在编译向量集时，用界面中定义的“TSB0”时序中测试向量周期、各引脚边沿参数和波形格式替换每条向量中的“TSB0”名，如此每条向量中就包含了各引脚的时序信息和驱动或期望的逻辑状态信息。将这些信息通过驱动程序写入底层数字测试板卡的存储器中，数字测试板卡就可以执行每条向量来测试与数字测试板卡测试通道连接的被测器件。第二种方式是将界面中定义的“TSB0”、“TSB1”等时序中的测试向量周期和各引脚边沿参数和波形格式存放在数字电路测试板卡的一块存储区域中，编译向量集时，将每条向量中的“TSB0”等时序名替换为对应的时序参数在数字电路测试板卡内存中存储的偏移量。通过驱动程序将向量写入板卡的存储器后，数字电路测试板卡在执行每条向量时，会先根据时序的偏移量在存
【参考文献】：
期刊论文
[1]Sinking型和Sourcing型数字信号I/O接口应用[J]. 段宝利,徐晓东. 物联网技术. 2014(03)
[2]集成电路测试原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 现代电子技术. 2014(06)
[3]基于ZeroMQ的分布式系统[J]. 蒲凤平,陈建政. 电子测试. 2012(07)
[4]基于Spring框架的IOC模式的设计和实现[J]. 周岚. 合肥学院学报(自然科学版). 2011(01)
[5]利用反向控制原则和依赖注入的可复用框架设计解耦方法[J]. 张浩. 计算机应用. 2010(S2)
[6]数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析[J]. 贺志容,韩红星,刘文捷. 计算机与数字工程. 2010(09)
[7]基于消息队列的多进程数据处理系统[J]. 杨超,徐如志,杨峰. 计算机工程与设计. 2010(13)
[8]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[9]集成电路测试技术的新进展[J]. 时万春. 电子测量与仪器学报. 2007(04)
[10]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
博士论文
[1]模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D]. 朱彦卿.湖南大学 2008
硕士论文
[1]集成电路测试系统码型文件解析软件设计[D]. 张菁奕.电子科技大学 2018
[2]4GSPS任意波形发生器驱动程序设计[D]. 熊倩.电子科技大学 2017
[3]数字集成电路自动测试硬件技术研究[D]. 陈明亮.电子科技大学 2010
[4]基于PXI总线的虚拟仪器测试系统的设计及其网络化研究[D]. 李爱民.南京理工大学 2008
[5]混合信号测试理论在生产测试中应用的研究[D]. 孔冰.天津大学 2007
[6]虚拟仪器软件结构—VISA的设计与实现[D]. 蒋荣华.电子科技大学 2006
[7]基于PXI总线的雷达虚拟测试系统[D]. 尹应全.华中科技大学 2005
本文编号：3031936
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：83 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
J750Ex-HD测试仪
图 1-1 J750Ex-HD 测试仪万(Advantest)公司，成立于 1954 年，其产品主要测试机等。为满足超大规模片上系统集成电路列测试仪可通过板卡的扩展，测试通道可达到也可以根据不同测试要求选择相应测试板卡。
再通过驱动程序批量写入各个数字电路测试板卡的存储器中供测试时使用。图2-9 中可以看到，向量集中的四条向量中都使用了命名为“TSB0”的时序。但在实际的集成电路测试中，特别是面向大规模数字集成电路的测试中，测试所需的向量集会很庞大，所需的时序会很多，可能会有“TSB1”、“TSB2”等等。因此，在编译器的设计中，向量集二进制文件的存储格式可以有两种设计方式。第一种方式是在编译向量集时，用界面中定义的“TSB0”时序中测试向量周期、各引脚边沿参数和波形格式替换每条向量中的“TSB0”名，如此每条向量中就包含了各引脚的时序信息和驱动或期望的逻辑状态信息。将这些信息通过驱动程序写入底层数字测试板卡的存储器中，数字测试板卡就可以执行每条向量来测试与数字测试板卡测试通道连接的被测器件。第二种方式是将界面中定义的“TSB0”、“TSB1”等时序中的测试向量周期和各引脚边沿参数和波形格式存放在数字电路测试板卡的一块存储区域中，编译向量集时，将每条向量中的“TSB0”等时序名替换为对应的时序参数在数字电路测试板卡内存中存储的偏移量。通过驱动程序将向量写入板卡的存储器后，数字电路测试板卡在执行每条向量时，会先根据时序的偏移量在存
【参考文献】：
期刊论文
[1]Sinking型和Sourcing型数字信号I/O接口应用[J]. 段宝利,徐晓东. 物联网技术. 2014(03)
[2]集成电路测试原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 现代电子技术. 2014(06)
[3]基于ZeroMQ的分布式系统[J]. 蒲凤平,陈建政. 电子测试. 2012(07)
[4]基于Spring框架的IOC模式的设计和实现[J]. 周岚. 合肥学院学报(自然科学版). 2011(01)
[5]利用反向控制原则和依赖注入的可复用框架设计解耦方法[J]. 张浩. 计算机应用. 2010(S2)
[6]数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析[J]. 贺志容,韩红星,刘文捷. 计算机与数字工程. 2010(09)
[7]基于消息队列的多进程数据处理系统[J]. 杨超,徐如志,杨峰. 计算机工程与设计. 2010(13)
[8]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[9]集成电路测试技术的新进展[J]. 时万春. 电子测量与仪器学报. 2007(04)
[10]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
博士论文
[1]模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究[D]. 朱彦卿.湖南大学 2008
硕士论文
[1]集成电路测试系统码型文件解析软件设计[D]. 张菁奕.电子科技大学 2018
[2]4GSPS任意波形发生器驱动程序设计[D]. 熊倩.电子科技大学 2017
[3]数字集成电路自动测试硬件技术研究[D]. 陈明亮.电子科技大学 2010
[4]基于PXI总线的虚拟仪器测试系统的设计及其网络化研究[D]. 李爱民.南京理工大学 2008
[5]混合信号测试理论在生产测试中应用的研究[D]. 孔冰.天津大学 2007
[6]虚拟仪器软件结构—VISA的设计与实现[D]. 蒋荣华.电子科技大学 2006
[7]基于PXI总线的雷达虚拟测试系统[D]. 尹应全.华中科技大学 2005
本文编号：3031936
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