一款高性能IGBT智能功率模块
发布时间:2021-04-09 09:51
基于自主开发的600 V/30 A IGBT芯片研制了一款高性能智能功率模块(IPM)。该IPM采用引线框架、印制电路板(PCB)和直接覆铜(DBC)结构技术方案,对焊接和注塑封装工艺进行了优化,并对模块的热性能进行了计算。与三菱公司IPM在常温快速启停、高温空载快速启停、温升方面进行了对比试验分析。测试结果表明,采用自主开发IGBT芯片的IPM完全满足应用需求。该IPM在常温快速启停试验运行50 min后进行保护,保护时间比三菱公司IPM略长;在高温空载快速启停和温升方面,该IPM与三菱公司IPM无明显差异;在高温空载快速启停试验中,稳态下该IPM驱动器最高温度为105℃;温升试验中,采用该IPM驱动电机,电机温升为56℃。
【文章来源】:半导体技术. 2020,45(06)北大核心
【文章页数】:6 页
【部分图文】:
IPM电气原理图
IPM布局图
自主开发的600 V/30 A IGBT芯片采用Trench-FS技术,具有正温度系数特性,便于并联使用。图3为IGBT芯片示意图,芯片尺寸为4 370 μm×4 370 μm。为了降低IGBT芯片在过流关断过程中的动态闩锁风险,对栅氧化层厚度(100 μm)进行了优化,保证沟道区栅氧化层质量和良好的Si-SiO2界面态。表1为自主开发的IGBT芯片的主要参数,包括集电极-发射极饱和压降(VCE,sat)、集电极-发射极电压(VCES)、栅极-发射极阈值电压(VGE,th)、集电极电流(IC)、集电极-发射极漏电流(ICES)和栅极漏电流(IGES),由表1可以看到,芯片在25和150 ℃环境温度下的最高结温(θj,max)均可达到175 ℃,在150 ℃下,芯片的VCE,sat、VGE,th和ICES较25 ℃下均有所增加。
【参考文献】:
期刊论文
[1]焊接式IGBT模块结构设计与性能分析[J]. 高勇,高婉迎,孟昭亮,杨媛. 半导体技术. 2018(11)
[2]采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征[J]. 梅云辉,冯晶晶,王晓敏,陆国权,张朋,林仲康. 高电压技术. 2017(10)
[3]应用于车载变流器的RC-IGBT工作特性[J]. 黄先进,凌超,孙湖,游小杰,肖春俊. 半导体技术. 2017(05)
[4]焊接式IGBT模块与压接型IGBT器件可靠性差异分析[J]. 邓二平,张经纬,李尧圣,金锐,赵志斌,黄永章. 半导体技术. 2016(11)
[5]绝缘栅双极型晶体管的研究进展[J]. 张金平,李泽宏,任敏,陈万军,张波. 中国电子科学研究院学报. 2014(02)
[6]IGBT器件的发展[J]. 戚丽娜,张景超,刘利峰,赵善麒. 电力电子技术. 2012(12)
[7]电子封装Cu键合丝的研究及应用[J]. 丁雨田,曹军,许广济,寇生中,胡勇. 铸造技术. 2006(09)
本文编号:3127409
【文章来源】:半导体技术. 2020,45(06)北大核心
【文章页数】:6 页
【部分图文】:
IPM电气原理图
IPM布局图
自主开发的600 V/30 A IGBT芯片采用Trench-FS技术,具有正温度系数特性,便于并联使用。图3为IGBT芯片示意图,芯片尺寸为4 370 μm×4 370 μm。为了降低IGBT芯片在过流关断过程中的动态闩锁风险,对栅氧化层厚度(100 μm)进行了优化,保证沟道区栅氧化层质量和良好的Si-SiO2界面态。表1为自主开发的IGBT芯片的主要参数,包括集电极-发射极饱和压降(VCE,sat)、集电极-发射极电压(VCES)、栅极-发射极阈值电压(VGE,th)、集电极电流(IC)、集电极-发射极漏电流(ICES)和栅极漏电流(IGES),由表1可以看到,芯片在25和150 ℃环境温度下的最高结温(θj,max)均可达到175 ℃,在150 ℃下,芯片的VCE,sat、VGE,th和ICES较25 ℃下均有所增加。
【参考文献】:
期刊论文
[1]焊接式IGBT模块结构设计与性能分析[J]. 高勇,高婉迎,孟昭亮,杨媛. 半导体技术. 2018(11)
[2]采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征[J]. 梅云辉,冯晶晶,王晓敏,陆国权,张朋,林仲康. 高电压技术. 2017(10)
[3]应用于车载变流器的RC-IGBT工作特性[J]. 黄先进,凌超,孙湖,游小杰,肖春俊. 半导体技术. 2017(05)
[4]焊接式IGBT模块与压接型IGBT器件可靠性差异分析[J]. 邓二平,张经纬,李尧圣,金锐,赵志斌,黄永章. 半导体技术. 2016(11)
[5]绝缘栅双极型晶体管的研究进展[J]. 张金平,李泽宏,任敏,陈万军,张波. 中国电子科学研究院学报. 2014(02)
[6]IGBT器件的发展[J]. 戚丽娜,张景超,刘利峰,赵善麒. 电力电子技术. 2012(12)
[7]电子封装Cu键合丝的研究及应用[J]. 丁雨田,曹军,许广济,寇生中,胡勇. 铸造技术. 2006(09)
本文编号:3127409
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