光纤灰度分布的高斯函数拟合法测量光纤几何参数

发布时间：2021-05-15 16:07

　　光纤的几何参数影响着光纤的光学传输和机械性能等,是衡量光纤质量的重要指标。近场光分布法是国标GB15972.20-2008中推荐的几何参数测量方法。该方法在对光纤纤芯的测量中需对光纤通光照明,以区分纤芯和包层的边界。通光的纤芯端面是一个边缘并不清晰的发光亮斑,因而无法准确判断纤芯与包层的真实边缘。本文分析了光纤内光传播模场的分布,理论上光纤模场电磁矢量的解满足贝塞尔函数,但在近似情况下也可以用高斯函数代表光纤模场分布。因此本文利用高斯函数拟合光纤纤芯端面灰度分布,进而由拟合后的高斯函数得到纤芯与包层的真实边缘。本方法是对国标GB15972.20-2008的测量方法的进一步完善。实验测量结果表明,当光纤的切割效果不佳或成像质量较差时,模场灰度分布的高斯函数拟合法仍能保证测量的重复精度和测量数据的稳定性。 

【文章来源】：光电工程. 2020,47(04)北大核心CSCD

【文章页数】：8 页

【文章目录】：
1 引言
2 原理分析
    2.1 贝塞尔函数与高斯函数近似
    2.2 边缘拟合与几何参数计算
3 测量数据与讨论
    3.1 正常成像条件的光纤几何参数测量
    3.2 非正常成像的光纤几何参数测量
4 结论


【参考文献】：
期刊论文
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硕士论文
[1]基于折射近场法测量光纤折射率分布的仿真研究[D]. 高迎春.哈尔滨工程大学 2012



本文编号：3187935