InSb多元探测器玻璃杜瓦贮存寿命研究

发布时间：2021-08-27 01:39

　　InSb红外探测器是红外系统的核心部件,探测器的寿命在很大程度上决定着系统的寿命,直接影响着系统的使用及保障。因此,探测器的寿命如何评价及采用何种试验方法来评价至关重要,但由于红外系统的敏感性,可查阅的国外资料比较少,并且寿命试验周期长、费用高,国内至今未形成有效的寿命试验、分析与评价方法。本文采用15个InSb多元探测器开展了贮存试验研究,应力水平分别为70℃、 80℃、 90℃。测试试验过程中不同温度下热负载的变化,对试验数据进行统计分析及处理,获得了寿命加速模型t=2.18×10^-8·exp（0.79/KT）,激活能为0.79 eV,评估了探测器在30℃下寿命可以达到30.76年。 

【文章来源】：航空兵器. 2020,27(02)北大核心CSCD

【文章页数】：5 页

【部分图文】：

器件的拟合寿命分布图

目测判断, 每个温度的5个点均近似在一条直线附近, 且3条直线近似平行(实际常是这样), 则假设2, 3均成立, 说明该组数据来自同一Weibull分布。3.2.4 建立玻璃杜瓦寿命与温度的关系方程

根据Arrhenius模型的器件特征寿命与所加应力水平之间的关系: ln t= A ′ +B( 1 Τ ) , 利用MATLAB画出拟合后每个温度点的器件的中位寿命与应力水平的关系图, 如图3所示。求出A′=-17.640 2和B=9 138.593 1, 则

【参考文献】：
期刊论文
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[2]红外微型杜瓦真空退化特性研究综述[J]. 张亚平,刘湘云.  红外. 2013(02)
[3]阿列尼乌斯模型在红外微型金属杜瓦的真空寿命试验研究中的应用[J]. 黄燕,吴全信.  低温与超导. 2005(02)



本文编号：3365387