基于光谱的40μm保偏光纤参数测量方法

发布时间：2021-12-09 18:30

　　由于基于40μm保偏光纤的商用光纤器件制作技术和保偏熔接技术尚不成熟,一般的保偏光纤参数测量方法很难直接应用。文章提出在1根40μm保偏光纤上完成超辐射发光二极管（SLD）耦合对接和光纤偏振器在线制作,构建出一套简单的偏光干涉装置,利用调制光谱可同时实现拍长和双折射温度系数的测量。文章分别从理论和实验上对测量方法进行了阐述和验证。所提方法同样适用于其他直径的保偏光纤参数测量。 

【文章来源】：光通信研究. 2020,(06)北大核心

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

40 μm保偏光纤参数测量装置示意图

图2所示为对调制光谱周期与光纤长度倒数的实测值进行线性拟合后的曲线,线性拟合函数为y=2.698 47x-0.040 09,斜率为2.698 47 nm/m-1,代入式(4)可计算出光纤拍长B=2.698 47×10-9/=3.2 mm。2.2 双折射温度系数测量

实验中SLD芯片与偏振器芯片之间的保偏光纤总长为193.0 cm,将中间40 cm的保偏光纤(即 L2=40 cm)固定到加热台上,控制加热台从25 ℃开始以0.5 ℃/min的升温速率加热到75 ℃,每2 ℃记录一次光谱数据,此条件下测量的调制光谱没有发生跨条纹移动,图3(a)所示为25和27 ℃下光谱仪记录的调制光谱数据,图3(b)所示为局部放大图。25 ℃下的某级峰值波长A点(854.4 nm)平移至27 ℃下的B点(853.9 nm),通过始终追踪测量该峰值波长就可计算出波长随温度的平移速率。图4所示为上述峰值波长随温度变化的关系数据和线性拟合后的曲线。由图可知,随着温度的逐渐升高,峰值波长近似线性地向左平移,线性拟合函数为y=-0.279 25x+861.4,斜率k=-0.279 nm/℃,代入式(8)可得双折射温度系数为-4.2×10-7/℃。

【参考文献】：
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硕士论文
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本文编号：3531106