新型反熔丝器件可靠性评价技术研究

发布时间：2021-12-21 20:56

　　随着集成电路产业的不断发展,对电路的性能和可靠性等要求也不断的增多,而存储器作为集成电路产业不可或缺的重要组成部分,对其要求也在不断的增高,要求性能稳定,可靠性高。目前市面上有各式各样的存储器,但是PROM存储器依然以其优越的性能被人们越来越重视。PROM存储器是一次性可编程存储器,数据不可更改,如果特殊情况下,存储的数据需要修改,我们可跳过已经编程的存储区域,使用还没有编程的存储空间更新数据。这种情况下,成本低、可靠性高的反熔丝PROM就脱颖而出。在航天领域,空间环境中的宇宙射线或强磁层产生的高能带电粒子都会对集成电路造成干扰,在军工领域,更有可能受到敌方的各种干扰和各种自然环境的变化,由于反熔丝PROM存储器可以稳定可靠的保存数据,所以在辐射强、昼夜温差大、电磁干扰严重的外太空环境工作时具有无可比拟的优势。反熔丝PROM具备快速读取、功耗低、抗辐照性强、可靠性高等优点,被广泛利用在航空环境中。既然PROM存储器经常在环境恶劣的情况下使用,对它的可靠性要求就比其它存储器更高,本文的主要目的就在于对反熔丝存储器的可靠性进行研究,这包含两部分,一部分是对反熔丝器件进行可靠性测试,另一部分... 

【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：70 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

测试器件版图

带保护环的测试器件版图

是带有保护环的测试器件版图，8 倍、10 倍的 5 种测试器件。图 4-3 带保护环的测试器件版图图如图 4-4 所示，版图中的矩形为金属 PAD接电源，给反熔丝器件提供电压。

【参考文献】：
期刊论文
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[8]Flash存储器技术与发展[J]. 潘立阳,朱钧.  微电子学. 2002(01)
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硕士论文
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[5]OTP存储器应用开发技术研究[D]. 张剑.电子科技大学 2015
[6]高速OTP存储器设计技术研究[D]. 周庆.电子科技大学 2014
[7]OTP存储器电荷泵系统的设计研究[D]. 罗前.电子科技大学 2012
[8]一种OTP存储器读出系统的设计技术研究[D]. 袁蕊林.电子科技大学 2012
[9]OTP存储器设计与实现技术研究[D]. 陈奕含.电子科技大学 2012
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本文编号：3545165