基于线激光锁相热成像的芯片裂纹成像检测

发布时间：2022-07-16 19:03

　　提出一种用于半导体芯片表面裂纹瞬时成像检测的线激光锁相热成像新技术。该技术系统由线扫描激光源、高速红外照相机及控制计算机组成,由线激光束扫描目标芯片表面并利用红外相机测量热波传播。提出新型无基线裂纹可视化算法,裂纹可导致热波阻挡现象,故被自动可视化和诊断,不依赖由目标芯片原始状态所获得的基线数据。对芯片在制造过程中产生细微裂纹进行研究,实验证明热成像新技术可对宽度为几十微米的裂纹进行可视化。 

【文章页数】：9 页

【文章目录】：
1 引言
2 线激光锁相热成像系统
3 无基线裂纹可视化算法
4 实验验证
    4.1 实验装置描述
    4.2 半导体芯片样本描述
    4.3 实验结果
5 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3663096