基于图形法的超辐射发光二极管性能退化可靠性评估

发布时间：2024-06-03 05:07

　　超辐射发光二极管(SLD)作为一个重要的特殊光源,针对SLD可靠度和寿命的预测精度要求高的问题,提出了基于图形法的SLD性能退化可靠性评估方法。首先采用加速应力的方式获得SLD的短时间内的无失效数据;其次根据退化轨迹采用最小二乘法进行拟合得到适合于退化轨迹的曲线方程,并根据失效阈值计算出超辐射发光二极管的伪失效寿命;最后采用Minitab对伪失效寿命进行个体分布标识,选用接受度高的对数正态分布,得出常温下失效前的平均工作时间。实验结果表明,该方法可以精准预测SLD的可靠度和寿命,相对于其他方法其精度提高了9.09%。

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【部分图文】：

图114脚蝶形SLD

超辐射发光二极管由管芯、热敏电阻、热沉、半导体制冷器(TEC)、尾纤和外部壳体组成[7],如图1所示。其中管芯是SLD的重要部分,其寿命主要决定整个管子的寿命。热敏电阻主要用来时刻检测管芯的温度变化并反馈给半导体制冷器。半导体制冷器主要是使管芯的温度处于正常工作范围,以延长其工作....

图2SLD退化增量轨迹

SLD在常温下光功率的退化是比较缓慢的,如果在常温下进行实验时间会非常长,这样不仅难以得出实验结果,实验的成本也会很高。因此选取8个同一批次的SLD实验样品在高温度的环境应力下进行寿命加速退化实验。给每个管子通以相同的驱动电流(100mA),热敏电阻正常工作,半导体制冷器不通电....

图3SLD光功率退化增量拟合曲线

根据所得的参数绘制拟合后的超辐射发光二极管光功率退化轨迹拟合,如图3所示。实验数据表明SLD光功率退化是不断增加的,且退化速率是不断加快的,并不是线性的。图3拟合后的SLD光功率退化增量是可以用函数进行表示并且与原始退化量退化趋势一致,在进行SLD伪失效寿命预估的时候可以减少误差....

图4SLD伪失效寿命拟合优度检验

SLD伪失效寿命拟合优度检验数值,如表3所示。表3SLD伪失效寿命拟合优度检验表Table3SLDpseudo-lifetimegoodness-of-fittesttable分布ADP正态分布0.3460.382指数分布2.2490.003We....

本文编号：3988223