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基于DLL控制的高精度时间数字转换器设计

发布时间:2017-06-09 06:06

  本文关键词:基于DLL控制的高精度时间数字转换器设计,由笔耕文化传播整理发布。


【摘要】:时间数字转换器(Time to Digital Converter, TDC)是一种数据转换器电路,它测量两个输入脉冲之间的时间差,并输出最接近该时间量的数字量化值。TDC常用于数字锁相环(phase-locked loop, PLL)、3D成像中激光往返时间测量以及核科学实验中粒子飞行时间的测量,有力地支撑了红外探测3D成像技术的发展,在军事和工业及民用等领域有广泛的应用。由于阵列架构带来的TDC面积和功耗的严格限制及高精度宽量程的要求,目前已知的大部分能突破门级延时的高精度窄量程TDC均很难用于阵列系统。为了实现适合于阵列应用的宽量程、高精度TDC,本文在经典的两段式TDC基础上给出了结构改进和优化设计方法:在原有高段LFSR计数器的最低位前加入异步减法器,在提高量程的同时进一步限制甚至降低电路功耗:同时将延迟环型TDC改进为基于DLL控制的TDC,提高中段TDC的性能水平;最后,进一步引入双环振结构,通过控制并利用其相对相位,突破数字电路最小门延迟,实现高精度时间分辨。与其它类型的三段式TDC结构相比,本设计方案不仅兼顾了精度和宽量程的共同需求,而且在量化机制上同样满足阵列应用的约束。理论研究和相关分析表明,基于Dual-DLL架构的分段式TDC,在抑制环振频率的相位噪声或时钟抖动方面具有明显优势,进而满足高精度宽量程高稳定的时间测量应用要求。本设计采用TSMC 0.35μm CMOS工艺,通过Cadence EDA工具验证,完成了整个电路前仿、版图与后仿及流片验证。测试结果显示,在125MHz输入时钟条件下,13bits三段式TDC测试量程可达4.5μs,同时分辨率可限制在0.547ns以内,最大绝对误差为9ns。且其DNL和INL分别为0.645LSB及1.35LSB,满足设计要求。
【关键词】:时间数字转换器 多段阵列式 高精度 宽量程 双环延迟锁相环
【学位授予单位】:东南大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2016
【分类号】:TN702
【目录】:
  • 摘要5-6
  • Abstract6-9
  • 第一章 绪论9-15
  • 1.1 课题背景与意义9-10
  • 1.2 国内外研究现状及发展趋势10-12
  • 1.2.1 国内外研究现状10-12
  • 1.2.2 发展趋势12
  • 1.3 研究内容与设计指标12-13
  • 1.3.1 研究内容12-13
  • 1.3.2 设计指标13
  • 1.4 论文组织结构13-15
  • 第二章 数字式TDC基础15-27
  • 2.1 数字式TDC时间量化原理15-16
  • 2.2 TDC性能表征16-20
  • 2.2.1 本征特性16
  • 2.2.2 非本征特性16-18
  • 2.2.3 TDC性能制约关系18-20
  • 2.3 数字式TDC典型结构20-25
  • 2.3.1 时钟周期计数器型TDC20-21
  • 2.3.2 周期分辨型TDC21-23
  • 2.3.3 延迟时间超细分辨型TDC23-24
  • 2.3.4 各类TDC比较24-25
  • 2.4 本章小结25-27
  • 第三章 基于DLL控制的多段式阵列型TDC设计27-45
  • 3.1 阵列型分段式TDC的计数原理及制约因素27-29
  • 3.2 阵列型多段式TDC架构29-33
  • 3.2.1 两段式TDC系统架构29-30
  • 3.2.2 多段式TDC系统架构30-33
  • 3.3 高位两段式计数型TDC电路设计33-36
  • 3.3.1 TDC电路的设计33-35
  • 3.3.2 高位两段式TDC前仿验证35-36
  • 3.4 中段TDC电路设计36-41
  • 3.4.1 差分延迟单元36-38
  • 3.4.2 DLL-OSC多相时钟设计38-39
  • 3.4.3 中段时钟周期细分辨TDC电路仿真39-41
  • 3.5 低段TDC电路设计41-44
  • 3.5.1 Dual-DLL电路设计41-42
  • 3.5.2 TDC电路设计42-43
  • 3.5.3 电路前仿验证43-44
  • 3.6 本章小结44-45
  • 第四章 TDC的版图设计及仿真45-55
  • 4.1 TDC版图整体布局45
  • 4.2 各模块及整体版图设计45-50
  • 4.3 前仿结果分析50-51
  • 4.4 后仿结果分析51-54
  • 4.5 本章小结54-55
  • 第五章 TDC芯片测试验证55-67
  • 5.1 测试环境与平台55-58
  • 5.2 计数功能测试58-61
  • 5.2.1 激励信号驱动58-59
  • 5.2.2 TDC计数功能测试59-61
  • 5.3 TDC性能测试及验证61-65
  • 5.3.1 分辨率及测试量程61-63
  • 5.3.2 DNL/INL测试63-64
  • 5.3.3 TDC单射精度测试64-65
  • 5.4 性能对比与结果分析65-66
  • 5.5 本章小结66-67
  • 第六章 总结与展望67-69
  • 6.1 总结67
  • 6.2 展望67-69
  • 参考文献69-73
  • 致谢73-75
  • 攻读硕士学位期间发表的论文75

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