星载温度传感控制芯片的自动测试系统

发布时间：2017-07-14 09:18

  本文关键词：星载温度传感控制芯片的自动测试系统

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【摘要】：为了评估星载相控阵T/R组件的电性能、温度传感和抗单粒子效应能力,针对星载X波段T/R组件中一款自主研发的温度传感控制芯片,设计开发了一套基于Lab VIEW的自动测试系统。系统采用高速数字I/O技术,提高了芯片电性能测试速度;同时系统具备高精度自动温度测试功能,能够精确评估芯片温度传感性能;另外系统具备数据自动处理功能,能够完成芯片电性能测试数据和设计指标的比对、温度测试数据和标定温度的误差分析以及单粒子效应试验前后数据变化量统计。最后采用本系统对芯片功耗、温度传感和抗单粒子效应能力进行了实测分析,测试结果表明该芯片功能正常、性能良好,可用于温度剧烈变化和充满空间辐射的航天环境,同时测试系统具备操作简单、可移植性好、测试速度快和测试精度高等优点。
【作者单位】： 浙江大学航空航天学院;
【关键词】： 相控阵雷达T/R组件 温度传感控制 自动测试系统 单粒子效应
【基金】：国家自然科学基金项目(61401395) 中央高校基本科研业务费专项项目(2014QNA4033) 浙江省教育厅项目(Y201533913)
【分类号】：TN958.92;TN407
【正文快照】： 星载相控阵雷达具备波束快速扫描能力、多波束形成能力、空间定向与空域滤波能力,广泛应用于星间通讯、目标探测和高分辨率对地观测系统[1-3]。与普通地基、海基等非空间相控阵系统不同,星载相控阵系统工作在温度剧烈变化、充满空间辐射的极端恶劣环境,因此,作为系统核心部件

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前5条

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【共引文献】

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【二级参考文献】

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【相似文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 杨廷善;美国军用自动测试系统管理体系概述[J];测控技术;2003年11期

2 张敏,张R，

本文编号：540523