基于边界扫描技术实现电路板全面测试

发布时间：2017-07-26 11:21

  本文关键词：基于边界扫描技术实现电路板全面测试

  更多相关文章： 边界扫描 互联测试 簇测试

【摘要】：板级边界扫描测试技术,也就是IEEE-1149.1标准在电子行业得到了广泛的认可。对于一个特定的电路设计项目,为了实现最高的测试覆盖率和最优的测试性能,详尽的可测试性分析是不可或缺的。边界扫描的可测试性设计不仅仅是选择支持JTAG扫描链的芯片及设定芯片特定引脚这么简单,还需要关注边界扫描芯片周围的逻辑器件或存储器的簇测试。本文描述了边界扫描进行电路板测试的常用测试项并提出利用边界扫描技术提高测试覆盖率的一些方法。
【作者单位】： 北京泛华恒兴科技有限公司;
【关键词】： 边界扫描 互联测试 簇测试
【分类号】：TN407
【正文快照】： 1　引　言应用。扫描链测试是测试边界扫描器件边界扫描技术(与I E E E2　边界扫描互联测试是否焊接完好,这是基于边界扫描技114 9.1,J TA G同义)如今已被越来2.1　板级边界扫描互联测试术完成测试的基础,如图1所示,为一越多的电子工程师所了解,本文旨通常情况下,今天的数字电

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前10条

1 肖小清;师谦;恩云飞;周继承;;从边界扫描技术协议讨论其发展与应用[J];电子质量;2007年06期

2 王志林;于秀金;王永岭;曹亮杰;;边界扫描技术在故障信息处理中的应用[J];西安邮电学院学报;2010年03期

3 蔚英辉;测试技术的飞跃——边界扫描技术[J];电信技术;2002年02期

4 石新峰,冯广森;边界扫描技术的原理及其在数字系统测试中的应用[J];河南机电高等专科学校学报;2003年04期

5 杜呈透,王让定,叶富乐;边界扫描技术及在实验设备中的应用[J];宁波大学学报(理工版);2005年01期

6 马少霞;孟晓风;钟波;;基于边界扫描技术的测试系统设计[J];电子技术应用;2006年01期

7 陈晓梅;孟晓风;钟波;季宏;;边界扫描技术的优化设计[J];电子测量技术;2006年03期

8 倪军;杨建宁;;基于边界扫描技术的数字系统测试研究[J];电子技术应用;2006年09期

9 邓中亮;韩可;邹德君;;基于并行机制的边界扫描技术[J];电子器件;2008年05期

10 陈亮;胡善伟;;边界扫描技术及其应用[J];航空计算技术;2009年01期

中国重要会议论文全文数据库 前6条

1 彭喜元;俞洋;孙宁;;边界扫描技术的板级实现方法研究[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集（上册）[C];2004年

2 陈志红;;边界扫描技术综述[A];2007年全国高等学校电子技术研究会论文集[C];2007年

3 陈粟宋;肖文平;;边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用[A];2008中国电子制造技术论坛论文集[C];2008年

4 柳爱利;许光明;寇昆湖;郝东;;边界扫描技术在LXI平台中的应用[A];2008’“先进集成技术”院士论坛暨第二届仪表、自动化与先进集成技术大会论文集[C];2008年

5 蔡金青;王锐;高明伦;;JTAG边界扫描技术的研究和设计[A];全国第十五届计算机科学与技术应用学术会议论文集[C];2003年

6 钱军;苗百利;左德承;杨孝宗;;边界扫描技术在测试BS-NBS结构电路上的应用[A];第五届中国测试学术会议论文集[C];2008年

中国硕士学位论文全文数据库 前4条

1 尚延臣;基于边界扫描技术的故障检测及演示系统的研究与设计[D];武汉理工大学;2012年

2 李洋;基于边界扫描技术的电路板测试研究[D];清华大学;2009年

3 潘小龙;基于边界扫描技术的测试系统的研究与应用[D];南京航空航天大学;2008年

4 华新孝;基于边界扫描技术的PCB功能模件测试方法的研究[D];哈尔滨理工大学;2010年

，

本文编号：576136