针对逻辑门功能异常的VLSI故障仿真方法研究

发布时间：2017-08-01 09:08

  本文关键词：针对逻辑门功能异常的VLSI故障仿真方法研究

  更多相关文章： 超大规模集成电路(VLSI)测试 故障建模 故障仿真 故障覆盖率 变异真值表(MTT)

【摘要】：为准确评价测试集对超大规模集成电路(VLSI)内部故障的覆盖效果,提出一种VLSI故障建模与仿真方法。首先,在电路级综合运用仿真和实验手段向逻辑门内部注入多个故障,统计并分析这些故障对其功能的影响以构建由变异真值表(MTT)组成的故障字典;其次,考虑MTT及其发生的相对概率权重,提出一种有效的测试覆盖率评价模型,并将其应用于门级故障仿真算法中;最后,针对若干组合逻辑基准电路进行了实例验证,仿真实验结果表明,所提方法相较于经典的固定值故障模型能够更真实地反映测试集的故障覆盖能力。
【作者单位】： 海军航空工程学院研究生二队;海军航空工程学院科研部;海军航空工程学院飞行器工程系;中国人民解放军92514部队;
【关键词】： 超大规模集成电路(VLSI)测试 故障建模 故障仿真 故障覆盖率 变异真值表(MTT)
【分类号】：TN47
【正文快照】： 1引言提高测试集对真实故障的覆盖率一直是超大规模集成电路(very large scale integration,VLSI)测试领域的一个重要课题。故障模型的质量直接决定着测试集的质量。固定值故障(stuck-at fault,SAF)模型一直在数字电路测试领域扮演主要角色[1-3],但有研究表明仍有许多故障不能

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本文编号：603474