速调管中二次电子引起的杂谱和高频包络塌肩研究

发布时间：2017-08-10 03:02

  本文关键词：速调管中二次电子引起的杂谱和高频包络塌肩研究

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【摘要】：描述了一个宽带多注速调管研制过程中出现的杂谱和高频包络塌肩现象,分析这些现象是由谐振腔二次电子谐振和二次电子内反馈引起的,本文根据消除二次电子谐振的方法提出了消除或抑制杂谱和高频包络塌肩的方法。文章中提出的方法已经被应用在速调管设计中,并经热测试验验证行之有效。
【作者单位】： 中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室;
【关键词】： 速调管 二次电子 高频包络 杂谱
【分类号】：TN122
【正文快照】： 大功率速调管作为一种功率放大器件,它的工作稳定性和输出频谱质量对整机系统的性能有重要影响。在速调管的实际研制中,尤其对于宽带多注速调管,其直流状态下的振荡和高频状态下的杂谱与高频包络异常是影响速调管性能的重要因素[1]。宽带多注速调管的带宽由输出带宽和群聚带宽

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本文编号：648514