当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

IGBT模块电气参数测试及分析

发布时间:2017-08-19 00:22

  本文关键词:IGBT模块电气参数测试及分析


  更多相关文章: IGBT模块 开关波形 开通时间 关断时间 开通损耗 关断损耗


【摘要】:针对不同集电极电流及开关频率下的开关过程设计并搭建了IGBT电气参数测试系统。试验测录了IGBT模块在开关过程中的电压、电流波形,对电压、电流波形进行数据处理,得到IGBT模块的开关时间和开关损耗;根据对IGBT模块的开关损耗进行分析,得到IGBT模块的开关损耗在随着集电极电流和开关频率变化的规律。
【作者单位】: 河北工业大学电气工程学院;
【关键词】IGBT模块 开关波形 开通时间 关断时间 开通损耗 关断损耗
【基金】:国家自然科学基金资助项目(51377044) 河北省科技计划基金资助项目(13214303D)
【分类号】:TN322.8
【正文快照】: 在新能源领域上,绝缘栅型晶体管(insulated正常运行的情况下,由于其自身损耗引起的温升,gate bipolar transistor,IGBT)是应用非常广泛的器对器件的可靠性影响很大。了解IGBT开关损耗件。IGBT模块电气参数测试有助于了解IGBT的情况可为下一步选择合适的散热系统、提高系统性能

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前5条

1 高琰,亢宝位,程序;一种具有新耐压层结构的IGBT[J];半导体技术;2003年07期

2 吴郁,陆秀洪,亢宝位,王哲,程序,高琰;低功耗IGBT(LPL-IGBT)及其仿真[J];半导体学报;2001年12期

3 高昂;慕德俊;胡延苏;;钳位型RDC缓冲电路分析[J];测控技术;2009年10期

4 李平;唐勇;程勤s,

本文编号:697624


资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/697624.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户a1589***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com