光电耦合器内部气氛长期贮存变化的研究

发布时间：2017-09-12 13:43

  本文关键词：光电耦合器内部气氛长期贮存变化的研究

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【摘要】：根据气密封装器件的内部气体流动原理,对光电耦合器内部气氛含量的初始状态进行了分析,对长期贮存的变化状态进行了预测,随后采用内部气氛分析仪验证预测结果,证明了气体流量原理能够有效预测光电耦合器封装内部的气氛含量,并且能够将封装工艺的薄弱环节暴露在检测初始阶段。通过分析测量漏率与真实漏率之间的关系,对提高预测光电耦合器内部气氛含量长期贮存变化的准确性提出了建议。
【作者单位】： 工业和信息化部电子第五研究所;中国电子科技集团公司第四十四研究所;
【关键词】： 光电耦合器 长期贮存 气体流动原理 内部气氛变化
【基金】：广东省自然科学基金项目(2015A030310331,2015A030306002)
【分类号】：TN622
【正文快照】： 气密性封装光电耦合器(以下简称光电耦合器)的可靠性与封装内部残余气氛含量有着密切的关系,长期贮存环境中的温度及湿度对其内部气氛变化都会产生直接的影响,水汽的侵入将导致集电极暗电流ICEO[1-2]增大等性能参数退化。目前国内外普遍采用美国IVA-210s内部气氛分析仪对气密

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本文编号：837580