利用整数存储无理数的测试数据编码压缩方法

发布时间：2017-09-27 04:43

  本文关键词：利用整数存储无理数的测试数据编码压缩方法

  更多相关文章： 测试数据压缩 无理数 静态编码 动态编码

【摘要】：针对集成电路测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间,不能降低芯片测试成本的情况,提出一种整数存储无理数的测试数据编码压缩方法.首先将测试数据按游程长度划分,默认第1个游程长度为小数的个位,其他游程长度依次为小数的小数位,将测试数据转换成小数;然后提出用二分查找无理数的方法,将该小数转化成可以整数表示的无理数;最后存储无理数对应的整数表示m,l,k.该方法采取传输测试数据规律而不是测试数据本身的方法,理论上可以将整个测试集的存储转化成对单个或若干个无理数对应整数表示的存储.对部分ISCAS89标准电路中规模较大的时序电路进行实验,结果表明,在同样实验环境下,其压缩效果方面优于Golomb码、FDR码、EFDR码、MFVRCVB码等成熟的编码方法.
【作者单位】： 安庆师范大学计算机与信息学院;合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
【关键词】： 测试数据压缩 无理数 静态编码 动态编码
【基金】：国家自然科学基金(61306046,61540011) 安徽省学术技术带头人后备人选(GXBJZD2016075,2015H053)
【分类号】：TN407
【正文快照】： 随着集成电路的发展,如何处理越来越庞大的测试数据已成为集成电路测试的关键难题之一.根据ITRS在2010年的报告数据,测试一个芯片,在2009年仅仅需要85个测试模式数,只需要压缩比为80;而到2019年,对测试模式数的要求则需要达到20 370个,对压缩比的要求则需要达到12 000.仅仅10

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前9条

1 王明之;怎样正确记录和书写测试数据(续)[J];电子产品可靠性与环境试验;1994年02期

2 项莉萍;梁华国;刘杰;张志刚;;基于交替-连续长度码的测试数据编码方法[J];计算机工程;2010年03期

3 商进;张礼勇;;一种混合相容数据块的测试数据压缩方案[J];哈尔滨理工大学学报;2011年06期

4 周彬;吴新春;叶以正;;二维测试数据压缩的优化[J];计算机研究与发展;2009年04期

5 叶益群;梁华国;祝沈财;张念;詹凯华;;分组频率Golomb码测试数据压缩研究[J];计算机应用;2007年12期

6 詹文法;梁华国;时峰;黄正峰;欧阳一鸣;;一种共游程码的测试数据压缩方案[J];计算机研究与发展;2008年10期

7 黄建华;扬均;黄红;;MC3361调频中频集成电路的测试与计算分析[J];移动通信;1992年04期

8 李兴鸿;赵俊萍;赵春荣;;集成电路三温测试数据在失效分析中的应用[J];电子产品可靠性与环境试验;2013年05期

9 ;[J];;年期

中国硕士学位论文全文数据库 前2条

1 李艳君;SoC测试中测试数据编码压缩方法的研究[D];贵州师范大学;2014年

2 余健;基于多特征序列编码的SoC测试数据压缩方法研究[D];合肥工业大学;2008年

，

本文编号：927711