LED片式COB光源荧光胶层失效XPS分析

发布时间：2017-10-07 00:35

  本文关键词：LED片式COB光源荧光胶层失效XPS分析

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【摘要】：在某些长期服役情况下,部分LED片式COB光源荧光胶发黑,影响了光的转换和取出。利用场发射扫描电镜(FESEM)观察荧光胶表面形貌,并用X射线光电子能谱仪(XPS)分析发黑前后荧光胶层的组成与化学键的变化。结果表明:老化发黑的试样中C的原子分数从59.26%增加至79.05%;Si的原子分数基本没有变化;随着老化发黑程度的加深,C=C键和C=O(O-C=O)键的相对含量分别由54.6%和6.2%降低至30.4%和3.0%,C=C和C=O键被大量分解,形成游离的C和O元素,富积在芯片表面形成了黑色物质。
【作者单位】： 华中科技大学材料科学与工程学院;
【关键词】： LED失效 COB光源 成分分析 XPS分析
【基金】：广东省产学研计划基金项目(项目编号:2013B090600031)
【分类号】：TN312.8
【正文快照】： 可靠性是影响发光二极管(LED)性能的主要因类似的现象发生。实验表明LED片式COB光源芯片素。功率型LED失效的原因主要是发光芯片的老化和发出的蓝光会使封装芯片表面的荧光胶出现发黑的封装材料性能的退化,结温和电流都会加速LED的老现象,发黑的LED片式COB样品光衰严重,色温明

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本文编号：985963