H 2 O 2 浓度对等离子体电化学法制备银纳米颗粒的影响

发布时间：2025-02-11 20:45

　　 利用等离子体电化学法制备银纳米颗粒,通过局域等离子体共振（Localized Surface Plasmon Resonance,LSPR）吸收光谱实时监测银纳米颗粒（Ag Nanoparticles,Ag-NPs）的生长过程,验证了在不同放电电流条件下放电等离子体与溶液相互作用产生的过氧化氢（H₂O₂）对已生成的Ag-NPs的氧化刻蚀作用,进一步地观察了反应结束后加入不同浓度的H₂O₂对Ag-NPs的氧化刻蚀程度.实验结果表明:当放电电流较大时,溶液中产生的H₂O₂含量越多,会氧化溶液中生成的Ag-NPs,表现为LSPR吸收光谱的吸收峰强度下降;在放电结束后,加入的H₂O₂浓度越大,Ag-NPs的氧化刻蚀现象越明显,表现为LSPR吸收光谱的吸收峰强度下降速率越大.探讨反应体系中的H₂O₂浓度问题,可以为更好地使用此方法制备其他金属纳米颗粒提供思路.

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【文章目录】：
1 实 验
    1.1 等离子体电化学法制备Ag-NPs
    2.2 实验装置及试剂
2 实验结果及分析
    2.1 不同电流条件下溶液中生成的H2O2对AgNO3的氧化作用
    2.2 放电结束后加入的H2O2浓度对生成Ag-NPs的影响
3 结 论



本文编号：4033829