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二维荧光光谱提取强干扰下的弱信号的模拟研究

发布时间:2017-08-24 13:06

  本文关键词:二维荧光光谱提取强干扰下的弱信号的模拟研究


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【摘要】:当用荧光光谱分析含A和B两成分样品时,如A的含量远高于B且A和B的荧光发射峰高度重叠,由于A的干扰和噪声的影响,B的信号难以被检出。通过数学分析和计算机模拟,发现通过合理选择实验条件,B的信号有可能在以改变激发波长为外扰的二维异步荧光谱上以交叉峰的形式被观测到。
【作者单位】: 北京分子科学国家实验室稀土材料化学及应用国家重点实验室北京大学化学与分子工程学院;
【关键词】荧光分析 二维异步相关光谱 噪声
【分类号】:O657.3
【正文快照】: 荧光光谱方法广泛应用于对物理、化学、生物医学的复杂样品的分析研究。在工作中人们常遇到下述情况:样品中含A和B两成分,A的含量远高于B且A和B的荧光发射峰高度重叠。在荧光发射谱上B的信号会被A的信号覆盖而无法检出。在我们的前期工作中,用可变激发波长为外扰,构建二维异步

本文编号:731445

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