XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素

发布时间：2017-11-05 06:07

  本文关键词：XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素

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【摘要】：采用高纯HNO_3为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO_2为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都在允许范围内,XRF三次熔片测试结果的精密度RSD5.6%;LA-ICPMS 15次测试结果精密度RSD3%。表明建立的硫化物熔融玻璃片的前处理方法可较好的应用于XRF和LA-ICPMS分析硫化物中的主次量元素。
【作者单位】： 同济大学海洋地质国家重点实验室;中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金项目(41273030,41322023,41573015,41376049,41225020)资助
【分类号】：TQ171.12;O657.34
【正文快照】： 2.中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室,湖北武汉430074引言目前,硫化物的测定通常采用化学法[1],电感耦合等离子体法[2]等。但这些方法分析流程较长,所需试剂多,处理过程较为繁琐。X-荧光光谱分析仪(XRF)是一种常用的主量元素分析仪器,具有样品前处理简单,快速、准

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本文编号：1142895