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氢气中微量氧、氮杂质的质谱分析方法

发布时间:2021-03-27 05:48
  文章介绍了一种利用Evolution高分辨率质谱仪测量氢中微量氧、氮的方法,该方法以氢中氧、氮气体标准物质为参比样品,通过不同压力进行线性拟合修正后获得较理想的测量结果。方法简单,可操作性强,充分讨论了进样压力、漏率等因素的影响,进一步提高了测量结果的准确性。 

【文章来源】:计量与测试技术. 2020,47(08)

【文章页数】:4 页

【部分图文】:

氢气中微量氧、氮杂质的质谱分析方法


高纯H2对应不同进样压力的计算值与测量值的偏差

变化曲线,漏率,容器,因子


贮样容器压力随进样时间的变化曲线

【参考文献】:
期刊论文
[1]氢-氘体系的氘丰度质谱分析技术[J]. 石磊,李金英,慕俊娟,纪存喜,胡石林,纪存兴,李中平.  核化学与放射化学. 2009(03)
[2]气相色谱法测定氘气中痕量的氧、氮[J]. 韦桂欢,张洪彬,宗昭星,龙庆云.  低温与特气. 2008(05)
[3]氦放电色谱法测定高纯氢中微量氧、氮杂质[J]. 熊德权.  低温与特气. 2005(02)
[4]分压强质谱计校准装置的研制[J]. 李得天,李正海,冯焱,张涤新,张建军,许珩,龚月莉,李莉.  真空科学与技术. 2001(03)



本文编号:3103004

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