X射线荧光光谱法测定氟化铝元素组分影响因素探讨

发布时间：2021-04-20 00:07

　　为解决氟化铝X射线荧光光谱分析（压片）标准方法中:低沸点试剂挥发和研磨时间不明的问题,选择直接研磨制样,X射线荧光光谱法测定氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷等组分含量;试验表明研磨时间对测定准确度有较大影响,随着研磨时间增加,样品粒度不断下降,氟元素荧光强度逐步增大,100 s时处于临界拐点,研磨超过100 s可得到良好结果;采用1,2-丙二醇代替乙醇等易挥发试剂,可避免设备光室压力过大现象;样品精密度试验中所有元素组分的相对标准偏差（RSD）在5%以下,方法重现性良好;标准样品的测定结果和定值一致,氟化铝试样湿法化学结果和XRF测定值吻合,方法可靠。 

【文章来源】：轻金属. 2020,(08)北大核心

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
1 实 验
    1.1 试验材料及设备
    1.2 实验方法
    1.3 校准样品的选择
2 结果与讨论
    2.1 研磨时间的选择
        2.1.1 研磨时间对计数率的影响
        2.1.2 研磨时间对粒度分布的影响
        2.1.3 研磨时间对测定准确度影响
    2.2 助研剂种类选择
        2.2.1 易挥发助研剂
        2.2.2 难挥发助研剂
    2.3 测定条件及曲线校正
        2.3.1 测定条件
        2.3.2 曲线校正
    2.4 精密度试验
    2.5 正确度试验
3 结 论



本文编号：3148581