粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

发布时间：2021-05-21 14:09

　　采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃、CaO、MgO、MnO、P₂O₅、TiO₂的质量分数。使用国家标准物质（GBW03118-03120,ZBM150-154）建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差（RSD）在0.8%～4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。 

【文章来源】：化学世界. 2020,61(02)CSCD

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
1 实验部分
    1.1 仪器与试剂
    1.2 固体粉末压片制样
    1.3 标准样品
2 结果与讨论
    2.1 m（样品）∶m（微晶纤维素）比对荧光强度的影响
    2.2 研磨时间对荧光强度的影响
    2.3 校准曲线
    2.4 方法检出限
    2.5 精密度实验
    2.6 准确度实验
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3199843